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X熒光測厚儀采用二次熒光法的原理及性能特點
閱讀：2079 發布時間：2021-5-19
X熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于微軟中文視窗系統的中文版應用軟件包，實現了對CMI主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差等多種數據分析模式。
X熒光測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
X熒光測厚儀性能特點
1、滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
2、0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
3、高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自動定位測試高度
5、定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
6、鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
7、高分辨率探頭使分析結果更加精準
8、良好的射線屏蔽作用
9、測試口高度敏感性傳感器保護