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詳細(xì)摘要：三豐帶表卡尺具有全新表盤移動(dòng)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)極平穩(wěn)地滑]行并具有良好的防震保護(hù)功能。

詳細(xì)摘要：應(yīng)用范圍與標(biāo)準(zhǔn)卡尺類似，使用標(biāo)準(zhǔn)附件可對(duì)溝、凹槽等進(jìn)行測(cè)量，使用附加配件可對(duì)螺紋、孔、齒等進(jìn)行測(cè)量。

量程200mm，分辨率0.01mm
訂貨號(hào)：4118800
帶數(shù)據(jù)輸出

詳細(xì)摘要：杠桿千分尺可對(duì)批量生產(chǎn)的工件進(jìn)行GO/NO-GO判斷

詳細(xì)摘要：293系列數(shù)顯千分尺達(dá)到 IP65 防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)，能夠用于各種環(huán)境，暴露在切割油等*環(huán)境下使用。

詳細(xì)摘要：V型測(cè)砧千分尺 測(cè)量凹槽個(gè)數(shù)為奇數(shù)的刀具 （如絲錐、鉸刀和銑刀） 外徑尺寸,V型測(cè)砧千分尺 帶有中心線凹槽的 V 型測(cè)砧。適用于單針法測(cè)量絲錐的中徑。

詳細(xì)摘要：棘輪鎖定裝置或摩擦套管可確保精確的重復(fù)精度。

詳細(xì)摘要：深度千分尺?4mm 可更換桿，底端研磨，測(cè)量范圍廣。

詳細(xì)摘要：三豐內(nèi)測(cè)千分尺卡尺型量爪由高級(jí)工具鋼制成。

詳細(xì)摘要：三豐環(huán)規(guī)用于校對(duì)內(nèi)測(cè)千分尺、三點(diǎn)內(nèi)徑千分尺、測(cè)缸規(guī)、內(nèi)徑量表

詳細(xì)摘要：三豐內(nèi)徑量表是為用戶青睞的內(nèi)徑表。 測(cè)針帶有硬質(zhì)合金頭經(jīng)久耐用。

詳細(xì)摘要：MM系列 尼康工具顯微鏡 采用新NIKON公司研發(fā)的同軸雷射 （TTL） 完*了以往工具顯微鏡Z軸測(cè)量精度不準(zhǔn)的缺陷,測(cè)量模式是通過無接觸力的激光束來探測(cè),重復(fù)精度可以達(dá)到1.5um,是目前光學(xué)測(cè)量顯微鏡Z軸測(cè)量的高精度.

詳細(xì)摘要：PTG-3550涂層測(cè)厚儀可以利用渦流和電磁感應(yīng)兩種不同的方法進(jìn)行厚度測(cè)量。用此*厚度測(cè)量?jī)x，利用其一個(gè)內(nèi)置探頭或我們提供的一個(gè)自動(dòng)探測(cè)的外接探頭，您可以方便的測(cè)量磁性基體（金屬）上非磁性涂層的厚度或非磁性導(dǎo)電基體（非金屬）上非導(dǎo)電涂層的厚度。

詳細(xì)摘要：UTG-2600超聲波測(cè)厚儀擁有*技術(shù)的數(shù)字式超聲波測(cè)厚儀可以透過涂層和漆層讀取管壁的厚度而不會(huì)影響測(cè)量，而且該測(cè)厚儀具有常用的功能包括基本測(cè)量、掃描、聲速調(diào)節(jié)、超大內(nèi)存及RS 232輸出。

詳細(xì)摘要：UTG-2800超聲波測(cè)厚儀*數(shù)字超聲波測(cè)厚儀，具備型號(hào)的功能。此多功能超聲波測(cè)厚儀提供基本測(cè)量、掃描、聲速調(diào)節(jié)、超大內(nèi)存及USB輸出功能。

詳細(xì)摘要：UTG-1500超聲波測(cè)厚儀，非常易于使用。在厚度或聲速已知的條件下，經(jīng)過簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)后，UTG-1500超聲波測(cè)厚儀可以精確的以公制或英制顯示讀數(shù)值。

詳細(xì)摘要：擁有*技術(shù)的DVM-1000測(cè)振儀，菲思圖現(xiàn)在將測(cè)振儀帶到我們的儀器產(chǎn)品組。DVM-1000測(cè)振儀是多功能測(cè)振儀可測(cè)速度，加速度，位移及轉(zhuǎn)速。

詳細(xì)摘要：LH-600C二次元高度儀分辨率／重復(fù)精度為0.1/0.5μm 時(shí)，精度可高達(dá)（1.3+0.6L/600）μm;LH-600C二次元高度儀全／半空氣浮動(dòng)系統(tǒng)可調(diào)節(jié)氣墊。可選擇多種信息語言.

詳細(xì)摘要：QM-Hite 350/600三豐高度規(guī)采用新型、高精度、高分辨率原點(diǎn)型線性編碼器進(jìn)行位置檢測(cè)。可通過*的處理方式 （跟蹤測(cè)量檢測(cè)圓的頂點(diǎn)） 進(jìn)行內(nèi)徑／外徑測(cè)量。

詳細(xì)摘要：TESA MICRO-HITE plus M 測(cè)高儀測(cè)量功能更強(qiáng)大，操作更為直觀和輕松，的旋轉(zhuǎn)控制按鈕將手動(dòng)測(cè)量的速度和自動(dòng)測(cè)量的精度*結(jié)合。基于其堅(jiān)固的*的設(shè)計(jì)，使得測(cè)高儀更適合于車間和檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室。可以用來進(jìn)行平面、平行面和圓柱面幾何體的內(nèi)尺寸、外尺寸、高度、深

詳細(xì)摘要：TESA MICRO-HITE 高度規(guī)可以用來進(jìn)行平面、平行面和圓柱面幾何體的內(nèi)尺寸、外尺寸、高度、深度或距離尺寸測(cè)量。同時(shí)可以進(jìn)行一維或二維的測(cè)量。TESA IG-13 數(shù)字式測(cè)頭可以測(cè)量垂直度、直線度、平行度等偏差和跳動(dòng)誤差，并以ISO1101標(biāo)準(zhǔn)輸出數(shù)據(jù)。在電子測(cè)高儀