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大阱深獲得高信噪比
靈敏度高達0.00001個吸光度單位
S1024DW大阱深探測器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測器，用于需要高信噪比的測量。通過S1024DW可以觀察到小于0.00001個吸光度單位的變化，適合高亮度的應用。
“X”選項：超大阱深探測器
S1024DW是標準阱深光譜儀，其二極管陣列探測器的信噪比為2500：1。S1024D具有更大的阱深，信噪比為8000：1。
理想的高光強應用光學平臺
S1024DW應用“USB”（也稱作“S”）系列光譜平臺，可以根據具體不同的應用來配置光學平臺。具體選項有入射孔徑、探測器附件、濾光片及光柵等等。S1024DW光學平臺的操作和USB4000光學平臺很相似。S1024DW光學平臺通過光纖采集光信號并色散到1024個高靈敏度光電二極管組成的陣列上，而在USB4000中采用的是3648像元的CCD陣列。
可集成的系統，適合多點采樣
在S1024DW光譜儀的主通道上可以附加多至7個輔助通道用以多點采樣，可以用來擴展探測的波長范圍或監視參考光譜。所有通道都通過一個ADC1000-USB A/D轉換器進行數據采集，每個通道輪流工作，總共8個光譜儀通道的數據同時采集。ADC1000-USB轉換器通過USB接口連接S1024DW到PC。可以分開購買S1024DW和ADC1000-USB，或同時作為一個整體（S1024DW-USB）購買。
S1024DW系列探測器選項
| 特性 | S1024DW | S1024D |
| 探測器： | Hamamatsu S3903 線陣二極管 | Hamamatsu S3904線陣二極管 |
| 像元： | 1024像元 | 1024像元 |
| 像元尺寸： | 25 µm x 500 µm | 25 µm x 2500 µm |
| 阱深： | 31,000,000 electrons | 156,000,000 electrons |
| 信噪比（全掃描） | 2500：1 | 8000：1 |
| A/D精度： | 12 bit | 16 bit |
| 暗噪聲： | 2 RMS | 2 RMS |
| 校正后線性度： | >99% | >99% |
S1024DW系列探測器附件
| 型號 | 描述 |
| L2探測器聚光鏡 | 附著在探測器上的圓柱狀透鏡，用于增加光的采集效率。 |
| OFLV-DW | 可變長通濾光片，在200-850 nm系統中消除高階效應。 |
| OFLV-350-DW | 可變長通濾光片，在350-1000 nm系統中消除高階效應。 |
| 規格 | |||
| 尺寸： | 153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm （采用 ADC1000-USB A/D轉換器） | 消除高次衍射濾光片： | 帶通和長通濾光片 |
| | 焦距： | 42 mm （入射）; 68 mm （出射） | |
| 功耗： | 180 mA @ 5 VDC （S1024DW & D主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & D輔助通道） | 光學分辨率： | ~0.3-10.0 nm FWHM （取決于光柵和入射狹縫） |
| 探測器： | 線性二極管陣列 | 雜散光： | 600 nm時 <0.05%； 435 nm時 <0.10% |
| 探測器范圍： | 200-1100 nm | 相對靈敏度： | 和USB4000的CCD探測器相比，S1024DW 在紫外段約為1/30，可見段約為1/80 |
| 光柵： | 14種光柵; UV到NIR | ||
| 入射孔徑： | 5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm寬狹縫或光纖（無狹縫） | 光纖連接： | SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖 |
| 積分時間： | 31ms到65s | ||
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