ASD光譜儀分析主要用于在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行環(huán)境土壤和沉積物篩選。該儀器可快速執(zhí)行大量分析并完成測(cè)試程序，有助于大幅度降低對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的需求以及相關(guān)的成本。符合人體工程學(xué)的流線型機(jī)身，處理器與儀器一體化設(shè)計(jì)，IP54防塵防水。
 

　　ASD光譜儀分析用于在整個(gè)行業(yè)范圍內(nèi)驗(yàn)證鍍層的厚度和成分。可在針對(duì)管材、閥門、焊縫、部件和壓力容器的PMI應(yīng)用中，進(jìn)行快速、精確的化學(xué)成份和合金成份的辨別。其基本的無(wú)損性質(zhì)，加上快速測(cè)量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式儀器等優(yōu)點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析并立即得到結(jié)果。
 

　　XRF指X射線熒光，是一種識(shí)別樣品中元素類型和數(shù)量的技術(shù)。對(duì)于鍍層分析，儀器將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測(cè)量值。
 

　　那么溫度對(duì)于ASD光譜儀分析有什么影響？接下來(lái)我們一起來(lái)看看吧。
 

　　屬于精密測(cè)量?jī)x器，光學(xué)系統(tǒng)微小的變化(如結(jié)構(gòu)件的熱脹冷縮等)即會(huì)引起很大的測(cè)量誤差，因此光譜儀在設(shè)計(jì)時(shí)會(huì)對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行恒溫控制。但即使如此，外界溫度的變化仍會(huì)影響恒溫系統(tǒng)的熱平衡狀態(tài)，引起測(cè)量誤差，因此為了保證測(cè)量結(jié)果的精密度，應(yīng)盡可能減小使用過(guò)程中環(huán)境溫度的波動(dòng)，大不應(yīng)超過(guò)5℃。
 

　　另外，廠家對(duì)儀器的使用溫度都有嚴(yán)格的限制，一般在10-30℃之間。首先是因?yàn)閮x器在工廠校準(zhǔn)時(shí)的溫度在20℃左右，10-30℃內(nèi)使用可以獲得較好的測(cè)量精度，其次儀器的部件及設(shè)計(jì)在10-30℃范圍內(nèi)具有更高的可靠性，超出該溫度范圍使用，會(huì)引起可靠性下降，嚴(yán)重的還會(huì)引起儀器故障；另外，光譜儀一般把光室的溫度控制在34~38℃之間的某個(gè)溫度點(diǎn)(不同型號(hào)儀器恒溫溫度不同)，為了確保光譜儀的恒溫控制正常工作，儀器使用的環(huán)境溫度必須與光譜儀恒溫溫度有一定的溫差，因此要求儀器使用環(huán)境溫度低于30℃。
 

　　因此，在使用過(guò)程中應(yīng)嚴(yán)格控制環(huán)境溫度，配備足夠功率的空調(diào)系統(tǒng)。