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我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。

汞Hg元素含量檢測儀

鹵素測試儀熒光能譜儀

經濟、準確、惠而不凡

快速應對RoHS&WEEE&

無鹵化指令，有效控制受限物質環保風險

    鹵素測試儀元素檢測
     RoHS檢測：

用戶可方便對RoHS控制的六類物質進行檢測與控制。

Pb、Cd、Hg、六價Cr（測試總Cr）PBB、PBDE （測試總Br）。

     無鹵檢測：

優良的硬件設計和完善的軟件解譜方法，可以的測試氯（Cl）元素。檢出下限低至≤60ppm。

    鹵素測試儀開放性工作曲線

用戶可很方便的根據自身材質狀況，建立風險材料的工作曲線，全面提工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度。

鹵素測試儀分析時間

可根據樣品種類設置不同的檢測時間，并可根據樣品大小自動調節檢測時間以保證所需檢測精度。

XRF應用－無鹵測試

對于氯（Cl）元素的測量，光路優化前后存在的差別，主要原因如下：

① 由于氯（Cl）元素熒光光子能量較低（2.6KeV），空氣會對熒光光子產生較為嚴重的吸收效應，從而降低熒光強度，大幅度降低測量精度。

② 空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對氯（Cl）元素產生的干擾，也會對測量精度產生較為顯著的負面影響。

光路優化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對氯（Cl）元素產生的干擾減少。

汞Hg元素含量檢測儀