| 供貨周期 |
一個月 |
規格 |
25/盒 |
| 貨號 |
CF-1.2/1.3-2C |
主要用途 |
超平有孔碳支持膜 |
超平有孔碳支持膜C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM
C-flat™是Z適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡的銅網上。C-flat™采用整體制造工藝，到達客戶手中的產品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。
超平有孔碳支持膜C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM
C-flat™是zui適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡的銅網上。C-flat™采用整體制造工藝，到達客戶手中的產品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。
特性：
技術制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，為冰層厚度均勻打下良好的基礎。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術，確保了孔大小的精確（精確至微米級別）；同時確保了孔型的連續性，精細的制造技術*消除了多于的碳和碳膜孔產生的邊角料。
超平有孔碳支持膜應用：
C-flat™有孔碳支持膜對利用低溫透射電鏡獲得高分辨率的數據信息提供了非常理想的樣品支撐。主要應用于以下兩個方面：
1． 低溫電子斷層掃描術（cryo-ET）和單一微粒分析（single particle analysis，SPA）
大量的科學研究人員報道，C-flat™超平的膜表面使得研究對象更均勻的分布膜上孔區域，膜上冰層厚度的均一性也大大提高。與其它有孔碳膜相比，*的微粒分布特性可以采集到的數據信息。膜上標準的孔大小為2µm，同時提供的還有其它大小的孔徑，也可以根據你的需要定制，因此C-flat™可在普通放大倍率下進行TEM定量分析。
2． 自動化低溫透射電鏡（automated TEM）
C-flat™分析位點的規則排列（以及微粒分布均勻和冰層厚的均一），可以使用Leginon軟件進行信息的自動控制和采集，兩者可以兼容。
產品訂購信息：
產品型號 | 貨號 | 孔徑大小 | 孔距 | 銅網規格 | 包裝規格 |
CF-1.2/1.3-2C | CF213-25 | 1.2 µm | 1.3 µm | 200目 | 25/pk. |
CF-1.2/1.3-4C | CF413-25 | 1.2 µm | 1.3 µm | 400 | 25/pk. |
CF-2/0.5-2C | CF205-25 | 2.0 µm | 0.5 µm | 200 | 25/pk. |
CF-2/0.5-4C | CF405-25 | 2.0 µm | 0.5 µm | 400 | 25/pk. |
CF-2/1-2C | CF212-25 | 2.0 µm | 1.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-2/1-4C | CF412-25 | 2.0 µm | 1.0 µm | 400 | 25/pk. |
CF-2/2-2C | CF-222C-25 | 2.0 µm | 2.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-2/2-4C | CF-224C-25 | 2.0 µm | 2.0 µm | 400 | 25/pk. |
CF-2/4-2C | CF242-25 | 2.0 µm | 4.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-2/4-4C | CF442-25 | 2.0 µm | 4.0 µm | 400 | 25/pk. |
CF-4/1-2C | CF241-25 | 4.0 µm | 1.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-4/1-4C | CF441-25 | 4.0 µm | 1.0 µm | 400 | 25/pk. |
CF-4/2-2C | CF422-25 | 4.0 µm | 2.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-4/2-4C | CF424-25 | 4.0 µm | 2.0 µm | 400 | 25/pk. |
CF-MH-2C | CF2MH-25 | Multihole* | | 200 | 25/pk. |
CF-MH-4C | CF4MH-25 | Multihole* | | 400 | 25/pk. |
CF-1/1-2C | CF21-25 | 1.0 µm | 1.0 µm | 200 | 25/pk. |
CF-1/1-4C | CF41-25 | 1.0 µm | 1.0 µm | 400 | 25/pk. |
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