18001965105
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子/電池 |
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儀器概述
余弦校正器是一種用于光譜輻射取樣的光學元件，用于收集 180°立體角內的光，從而消除了其它取樣裝置中由于光收集取樣幾何結構限制所導致的光學耦合問題。
BIM-6320-01余弦校正器可以直接耦合 SMA905 接口，與光纖和光譜儀連接。有效直徑3.9mm，采用進口PTFE材料，波長范圍200~1100nm。可用于測量太陽輻射光、LED光、激光、環境光、以及對其它發光光源進行分析測試。
應用領域
測量UV-A和UV-B太陽輻射光、LED光、激光、環境光、以及對其它發光光源分析測試
儀器特點
可收集180°視場角的光
采用聚四氟乙烯漫射材料
可方便與光纖進行耦合
技術參數
| 光譜范圍 | 200nm-1100nm |
| 光學漫射器 | Spectralon |
| 尺寸 | ∅6.4×17.5mm |
| 漫射器（直徑） | 3.9mm |
| 漫射器（厚度） | 1mm |
| 視場角 | 180° |
| 接口 | SMA905 |
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