光學顯微鏡在地質分析已成為常規研究技術之一，其優勢首先在于光學檢測的無損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀測微區形貌；第三是微區形貌的3D建模和測量功能，可對微區物理結構特征進行量化表征。
本次課程通過介紹不同類型的徠卡光學顯微鏡在地質行業的應用，幫助您選擇最合適的設備進行分析、研究。
點擊觀看視頻回放
偏光顯微鏡的作用及基礎認識
1、單偏光下的晶體特性
礦物突起
礦物糙面
礦物形態
解理
礦物顏色
晶體的多色性與吸收性
2、正交偏光下的晶體特性
礦物雙晶的觀察
礦片消光類型及消光角的測定
干涉色
礦物延性符號的測定
3、錐光鏡下的晶體特性
確定一軸晶還是二軸晶
測定光性符號
測量光軸角的大小
DM4P常規配置介紹
部分巖石樣品成像效果
云母類相關樣品顯微鏡下成像效果
偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇，比如：顯微鏡熱臺、陰極發光儀、分光光度計等多樣化應用配置需求，滿足不同類型研究者的需求
徠卡光學觀測與成分分析二合一系統：DM6M LIBS系統也可以滿足此類樣品的檢測，從目視分析到元素檢測，在短短幾秒鐘內快速識別元素且無需額外樣品制備。
了解更多：徠卡顯微
8
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務