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鍍金X射線膜厚檢測法Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, Z小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析
產品簡介
詳細介紹
鍍金X射線膜厚檢測法儀器系統結構
鍍金X射線膜厚檢測法測量部分的結構
用于照射（激發）的X射線是采用由上往下照射方式，用準直器來確定X射線的光束大小。
樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機所攝制的圖像來確定想要測量的樣品位置。標準配備了多種尺寸的準直器可根據需要調整照射X射線的光束大小來決定測量面積，zui小可測量面積是40umф。
X射線操作部分（X-ray station）
Excel和Word是標準配置，利用這些軟件，我們可以簡單快速地進行測量數據的統計處理及測量結果報告書的編輯和打印。
儀器規格及參數
X射線管 | 油冷式超微細對焦點X射線管 靶材：鎢（W）、鋁（AL）、鉬（MO） 管電壓：0~50kv 管電流：0.1mA |
照射方式 | 由上往下垂直照射方式 |
檢測器 | 正比例計數管（PC） |
儀器校正 | 密度校正，標準樣品校正 |
檢測濾片 | Co片，Ni片可選 |
準直器 | 固定型或自動型 |
固定型：可選0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
自動型：0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
輸入電壓 | AC220V |
溫度控制 | 前置放大及主機溫度控制 |
工作溫度 | 室溫（22~25℃） |
真空樣品室 排氣所需時間 | 沒有 |
可測量元素范圍 | 鈦（Ti）—鈾（U） |
可測量厚度范圍 | 原子序：22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um |
測量時間 | 10~30s |
操作接口 | Windows XP |