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產(chǎn)品簡介
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。其特點(diǎn)為：雷射自動(dòng)對焦、全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái)、Point and Shoot 自動(dòng)對位、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動(dòng)調(diào)整、具有競爭力的價(jià)格、五個(gè)準(zhǔn)直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破壞性器的*機(jī)型。
詳細(xì)介紹
X光無損非接觸測量，只需10-30秒即可獲得測量數(shù)據(jù)，zui小測量面積為直徑0.1mm圓面積，測量范圍：0-35um,測量誤差：5%以內(nèi)。