目錄:南京德捷電子儀器有限公司>>金相顯微鏡>>雙目倒置金相顯微鏡>> IE200M金相顯微鏡
| 產地類別 | 國產 | 產品種類 | 倒置 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 配備圖像分析系統 | 是 |
| 應用領域 | 環保,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
IE200M金相顯微鏡特點
■使用專業的金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適。
■提供*的圖像質量和穩固可靠的機械結構。
■選配相應的攝影攝像附件，可對觀察圖像進行采集和保存，配電腦和專業金相分析軟件圖像進行金相圖像分析。
■操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
金相顯微鏡技術規格
光學系統
有限遠色差校正系統
觀察筒
鉸鏈式三目，45°傾斜，雙邊±5屈光度可調，瞳距調節范圍：54-75mm，固定式分光比，雙目:三目=80%:20%
目鏡
高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm
金相物鏡
長工作距平場消色差專業金相物鏡5X，10X，20X，50X
轉換器
內定位四孔轉換器
載物臺大小：180mm*155mm
行程：75mm*40mm
調焦機構：粗微調同軸，每轉行程：38mm/粗調，0.2mm/微調，zui小格值0.002mm
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