LightWing光學系統

分析儀內部的光學系統布局的設計已*改變。儀器包含多塊檢測器，并將探測器放在單一焦平面上。這能大幅提高分辨率，重新設計的光學系統也能減少外殼的整體體積。這反過來能減少操作過程中的氬氣消耗量，有助于降低成本。另一個好處是啟動時間更短，有助于提高生產率。

CMOS檢測器技術

如前文所述，我們已經包含多個以特定方式配置的檢測器。但這還不是全部，實際上我們還重新設計了檢測器，并使用CMOS技術。這使每個檢測器的分辨率和動態范圍更高，意味著與傳統CCD檢測器相比，我們需要的探測器數量更少。現代CMOS技術在極低檢出限下也很穩定，是OE系列所具備的ppm范圍檢測能力的一個因素。

重新設計的火花光源降低能耗成本

火花直讀光譜儀的用戶知道，火花本身會產生大量熱，并消耗大量電能。我們減少了OE系列所需的余熱和能量，從而提高電光轉換效率，降低運行成本。這也意味著我們可以納入一個直流電源，用于隔離儀器主電源——這一點很重要，因為如果主電源波動的話會影響性能。

通過減少維護以優化環境穩定性

由于獲得在OE系列的設計中進行整體改變的機會，由此我們能夠觀察技術的各個方面，包括氬氣如何隨著時間的推移而影響結果。我們知道，對于非常短的波長（小于200nm），光強會逐漸降低，因此很難獲得某些元素的結果。OE750通過使用中壓力氬氣凈化系統克服了這一點，該環境隨著時間推移提供更好的穩定性和強度。這意味著系統可以用無油泵運行，從而降低功耗并減少標準化的需要。

火花臺是單獨的密封裝置

火花臺的任何泄漏或連接不*都會影響儀器性能。如果火花臺中進入空氣，會影響結果，進入灰塵會增加清潔的需要。解決辦法是將光學系統和火花臺密封在單臺裝置中，使空氣或灰塵無法進入。這也可以使等離子體源更好地傳導到檢測器上，從而提高分辨率。已對密封裝置的氬氣流進行優化，這也有助于降低氬氣消耗量。

OE系列的上述技術創新可使用戶在價格合理的儀器中獲得全面ppm級性能的金屬分析，運營成本也得以降低。

OE系列：兩種分析儀可供選擇

OE系列的兩種儀器都受益于相同的高性能和*的成本效益。OE720非常適合低檢出限，或者可選擇OE750達到更低的檢出限，并為用戶的工具包添加氮、氧或氫分析功能。