但其如何實現以優惠親民的購買價格提供高性能？日立如何降低光譜儀的運行成本？一切答案都歸因于科技：

1. 創新的光學系統設計提高性能，并縮短啟動時間

光學系統是OE750操作的核心，當前正針對這一新光學概念申請四項專利，其可為光譜儀提供同類產品中的佳光學分辨率。此技術可確保檢測所需的一切事物，即使在超低限值的情況下亦可進行檢測。OE750內的光學系統配置經過*的重新設計。外殼體積相對較小，從而縮短啟動時間，確保儀器可更快地被使用。日立已納入更多檢測器，并將其放在單焦平面上；這一設計能提供優質的分辨率，并能清晰顯示結果。后，檢測器本身已經過升級，將在下文進行相關介紹。

2. 先進的檢測器技術成本更低，但性能更好

降低光譜儀成本，但仍可提高性能的關鍵之處在于檢測器本身。日立已使用新型CMOS芯片代替舊款CCD檢測器。CMOS芯片具有更高的分辨率和改進的像素尺寸，以及更高的動態范圍。僅使用一個鍍膜傳感器便可完成通常情況下需要幾個CCD傳感器才能完成的工作。由此，光譜儀成本有所降低，但與較昂貴的儀器具有同等的高性能。在低檢出限的穩定性方面，CMOS檢測器也優于舊款CCD檢測器，這正是分析ppm含量范圍內的金屬時所需實現的目標。

3. 低壓力氬氣凈化降低運行成本，減少維護

標準OES儀器的一個問題是，對于低于200nm的波長，其光強會隨時間推移而減弱，從而導致一些分析分辨率不足。日立已通過開發中壓力氬氣凈化環境（一種真空技術和低壓力氬氣凈化的*組合）*克服此問題，即使在150nm以下的波長情況下也可提高穩定性和強度。該系統能減少所需氬氣量，并允許使用僅在某些時候才可被使用的無油泵。泵的功耗降低，而維護和校準間隔大幅增加，從而增加儀器的可用性，并降低運行成本。

4. 改進火花光源，以提高效率和穩定性

日立也重新設計了火花光源。舊款光譜儀的此部件耗用大量功率以產生火花，且電源的任何波動均會改變火花特性，從而可能影響結果可靠性。日立進行創新，設計了開創性的OE750。通過提高火花源的效率，實現耗用較少功率和產生較少熱量的目標。此款光譜儀中還新添了能提高火花可靠性和再現性的功能，例如，24V直流電源將火花與本地電源電壓隔離，以使本地電源的波動不會影響光譜儀的性能。

5. 新密封火花臺改進檢出限，并減少維護

在新設計中，火花臺和光學系統實質上是一個密封單元。這是在寬波長范圍內獲得一致低檢出限和性能的方法。這是金屬中氣體分析的強制性要求，例如，鋼鐵中的氮元素的檢出限為10ppm。密封單元設計確保空氣和微粒無法進入火花臺和光學系統區域，從而大限度減少分析干擾。同時入射狹縫和透鏡之間的距離非常短，從而大幅改善光耦合。外殼專為透鏡周圍氬氣的優層流而設，再次減少所需氬氣量。此外，密封單元能減少維護需求，確保獲得更長的正常運行時間和更好的結果。

無需降低性能標準

此性能可確保符合嚴格規范，檢測廢料中的雜質和痕量元素，并以當今金屬行業要求的超低限值驗證來料。