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詳細介紹
本儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量?？蓮V泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
本儀器符合以下標準：
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
功能特點：
本儀器采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
具有米、英制轉換功能；
具有打印功能，可打印測量值、統計值；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能；
具有自動關機功能。
技術參數：
| 測頭類型 | N | |
| 測量原理 | 電渦流 | |
| 測量范圍 | 0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻) | |
| 低限分辨力 | 1µm(10um以下為0.1um) | |
| 探頭連接方式 | 一體化 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1.5] |
| 兩點校準(um) | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸3 凹10 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф5 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 0.3 | |
| 溫濕度 | 0~40℃ | |
| 統計功能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 | |
| 工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) | |
| 測量方式 | 連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE） | |
| 上下限設置 | 無 | |
| 存儲能力 | 15 個測量值 | |
| 打印/連接計算機 | 可選配打印機/不能連接電腦 | |
| 關機方式 | 自動 | |
| 電源 | 二節3.6V鎳鎘電池 | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
| 重量 | 150g | |
基本配置：主機 標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） 鋁基體 充電器
可用附件： TA230打印機
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