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深圳市安川測量儀器有限公司

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SANKO三高膜厚儀SWT-7000III兩用探頭FN-325

參考價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:SWT-9000

品       牌: 其他品牌

廠商性質:代理商

所  在  地:深圳市

更新時間:2024-08-06 14:34:03瀏覽次數:1713

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產地類別 進口 應用領域 能源,建材,電子,綜合
SANKO三高膜厚儀SWT-7000III兩用探頭FN-325
SWT-7000+FN325探頭:可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。
新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產品(7000、8000、9000)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。

SANKO三高膜厚儀SWT-7000III兩用探頭FN-325

SWT-7000+FN325探頭:可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。

新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產品(7000、8000、9000)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。


SWT系列探頭可互換。 

 ◆ 兩用型 : FN-325  

 ◆ 鐵材用 : Fe 系列        

 ◆ 非鐵材 : NFe 系列

探測頭型號

FN-325

測量方式

電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

測量范圍

鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

表示分辨率

1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

測量精度

(平滑表面)

0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

或者是指示值的±2%以內

101μm~3.00mm:±2%以內(鐵底材)

101μm~2.50mm:±2%以內(非鐵底材)

探測部

1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

選擇產品

V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

測量對象

鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

電鍍(電解鎳除外)等

非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

一般較普遍的測量物用

SANKO三高膜厚儀SWT-7000III兩用探頭FN-325

SWT-7000Ⅲ系列機型

機型

SWT-7000Ⅲ

SWT-7100Ⅲ

SWT-7200Ⅲ

測量范圍

連接的探測頭不同測量范圍也不同。

顯示方式

液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈

檢量線校正

2點校正方式(零校正、標準校正)

檢量線存儲

鐵、非鐵各1根

10根

測量值存儲

20,000點

數據傳送

USB

USB

統計功能

內藏


附加功能

●背光燈   ●測量模式的切換(普通/連續)   ●檢量線、校正值的刪除

●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) ●分辨率的切換  

●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)

電源

單3電池 ×2

單3電池 ×2     電源線

使用溫度

0~40C°(不結露)

機體尺寸·重量

72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

附屬品

干電池、收納袋子

干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

追加產品

鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)


SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

型號

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

測量方式

電磁感應式

測量范圍

0~2.50mm

0~600μm

表示分解率

1μm:0~999μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.50mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm


測量精度

(平滑面)

0~100μm:±1μm

又或者時顯示值的±2%以內

101μm~2.50mm:±2%

0~100μm:±1μm

又或者時顯示值的±2%以內

101μm~600μm:±2%

探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

2.5:φ13×48mm

2.5L:18×23×67mm

1點定壓接觸式

測量部:約20×57mm

全長:約550~ 1.550mm

(伸縮式)

1點定壓接觸式

Φ5.6×94mm

選擇產品

V形套頭/—

(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標準校正片

試驗用零校正板

(鐵用)

標準校正片

試驗用零校正板(鐵用)

收納袋子

標準校正片

試驗用零校正板

(鐵用)

測量對象

鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。


SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

型號

Fe-10

Fe-20

測量方式

電磁感應式

測量范圍

0~10mm

0~20mm

表示分解率


1μm:0~999μm

0.01mm:1~10mm


1μm:0~999μm

0.01mm:1~5mm

0.1mm:5~20mm

測量精度

(平滑面)

0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

3.01mm:顯示值的±3%

探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ18×47mm

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ35×59mm

選擇產品

附屬品

標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

測量對象

鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

探測頭要根據需要購買。

SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

型號

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

測量方式

渦電流式

測量范圍

0~2.00mm

0~600μm

0~8mm


表示分解率

1μm:0~999μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.00mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm



1μm:0~999μm

0.01mm:1~8mm


測量精度

(平滑表面)

0~100μm:±1μm

又或者時顯示值的

±2%以內

101μm~2.00mm:

±2%以內

0~100μm:±1μm

又或者時顯示值的

±2%以內

101μm~600μm:

±2%以內

0~100μm:±1μm

±(±1μm+顯示值的±2%)

101μm~8mm:

±2%以內


探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

2.0:φ13×47mm

2.0L:18×23×67mm

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ11×48mm


1點定壓接觸式

V形口套頭

φ35×61mm


選擇產品

V形套頭/-

附屬品

標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

測量對象

鋁、銅等非磁性金屬底材

上的絕緣性皮膜等一般普

通測量物用。

鋁、銅等非磁性金屬底

材上的絕緣性皮膜等

細小的圓棒、細管、小

物件等的高安定性用。

鋁、銅等非磁性金屬

底材上的絕緣性皮膜等

比較厚的測量物用。

探測頭要根據需要購買。



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