當前位置:> 供求商機> Xstress DR45-X射線衍射法殘余奧氏體測定儀
便攜式全自動殘余奧氏體測定儀比以往歷代殘余應力分析儀更快速、精度更高,提供的數據更可靠。 Xstress DR45的檢測速度和準確性使殘余應力測量方面大大超出了實驗室范圍,并進入了生產線。直觀、簡捷的界面的,全新支持軟件與全新技術相結合,可提供的工作效率。
X射線衍射法殘余奧氏體測定儀主要技術指標:
測角儀
◆ 傾斜和旋轉
◆ 改進的y幾何(側傾法)
◆ 對稱安裝的雙探測器
◆ 連續可調的2q角范圍:110-170度
◆ 多種準直器可更換,直徑從Φ1到Φ5,包括特殊小直徑Φ0.5和Φ0.8甚至更小
◆ 全自動校準,自動調整測距,行程誤差小于0.003mm
X射線衍射法殘余奧氏體測定儀探測器
◆ 固態位敏正比計數器
◆ 靈敏度高,信噪比好
◆ 角精度0.029°/像素, 512像素
◆ 簡潔緊湊,無需高壓,功耗1mW
電 源100-240 VAC,50/60Hz
X射線衍射法殘余奧氏體測定儀X射線管
微型X射線管,5~30KV/0~10mA/300W可調,Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各種靶材可供選擇,幾分鐘內更換完畢。
Stresstech Oy總部設在芬蘭是生產X射線衍射法殘余奧氏體測定儀和巴克豪森法(磁彈法)磨削燒傷檢查儀的生產廠。
X射線衍射法殘余奧氏體測定儀主要應用在航天、航空、船舶、電力、石油化工、鍋爐壓力容器、冶金、機械制造、核工業、石油、科研機構、大學等。
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