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KDK-LT-100C數字式硅晶體少子壽命測試儀PX 3596
WT-2000型少子壽命測試儀PX 4000
MDPpro 850+1少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)PX 3144
扭曲壽命試驗機PX 3040
非接觸式晶錠電阻率測試儀PX 1887
ZC5820揚聲器壽命測試儀PX 5294
PV-2000A 光伏多功能掃描系統PX 3055
LT-2型單晶少子壽命測試儀PX 3059
GDW3-LT100C數字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 τ:1~6000μs ρ>0.1Ω?cmPX 3686
ZH409數字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 型號:ZH409PX 3866
SCFBC-352晶閘管少子壽命測試儀/整流管少子壽命儀 型號:SCFBC-352 中慧PX 3586
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀PX 3020
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)PX 2454
DZ-LT-1高頻光電導少子壽命測試儀PX 2936
FPSIN-WCT-120晶圓少子壽命測量儀PX 3779
Kt17可控硅控制器PX 3632
XM-STD-6食品安檢測儀PX 5714
TR-LT-2單晶少子壽命測試儀PX 2744
DP-LT-200數字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀DP-LT-200PX 5597
WJ-100A廠家微波光電導少子壽命測試儀PX 3233
MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀PX 2506
KDKLT-200數字式硅晶體載流子復合壽命測試儀/少子壽命測試儀(鑄造多晶)KDKLT-200PX 3693
MHY-14351.少子壽命測試儀PX 3002
MDPmap-1MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀PX 3144
MDPlinescan-1MDPlinescan在線少子壽命測試儀PX 3144
MDPspot-1少子壽命測試儀PX 3144
德國Freiberg--MDPproMDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀--少子壽命PX 3144
Freiberg--MDPmapMDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試PX 3144
弗萊貝格--MDPlinescanMDP在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測儀PX 3144
Freiberg--MDPinlineMDP高速晶圓片在線面檢測儀--少子壽命檢測PX 3144
Freiberg--MDPinline ingotMDP晶錠在線面掃檢測儀--進口少子壽命測試PX 3144
Freiberg-MDPictsMDP微波探測光誘導電流瞬態譜儀--少子壽命PX 3144
FlyTOF飛行時間法載流子(電子空穴)遷移率測量儀PX 0
微波法少子壽命PX 1887
光電少子壽命測試儀PX 1887
遷移率少子壽命測試儀PX 1887
渦流法電阻率測試儀PX 1887
晶錠方阻電阻率測試儀PX 1887
硅片方阻電阻率PX 1887
ZC1681B-ST多路揚聲器壽命測試儀PX 5294
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光刻及涂膠顯影設備
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其它半導體行業儀器設備
非接觸式晶錠電阻率測試儀
微波法少子壽命
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀
美國Sinton WCT-120+Suns-Voc少子壽命測試儀器
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
MDPspot少子壽命測試儀
MDPlinescan在線少子壽命測試儀
光電少子壽命測試儀
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