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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀
KLAFilmetricsR50系列四探針電阻測(cè)試儀可對(duì)金屬層厚度、薄膜電阻、
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襯底電阻率方阻測(cè)試儀:襯底,或稱基片(substrate),是指在半導(dǎo)
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碳化硅電阻率方阻測(cè)試儀:1、電阻率ρ不僅和導(dǎo)體的材料有關(guān),還和
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無損方塊電阻測(cè)試儀包含一個(gè)渦流傳感器組,感應(yīng)弱電流到導(dǎo)電薄膜和
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晶錠非接觸方阻測(cè)試儀:晶錠,也叫單晶硅棒,是一種純硅材料,在電
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??渦流法方阻測(cè)試儀的方阻是指一個(gè)正方形?薄膜導(dǎo)電材料邊到邊的
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我司憑借先進(jìn)的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品線,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一
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渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行檢測(cè)的方法。當(dāng)載有

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