產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,地礦,電子,印刷包裝 |
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顆粒粒形粒度分析儀產品介紹
JX-2000B圖像分析系統由光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態各異,在借助激光粒度儀測試的同時,選用顆粒圖像分析儀,可以更準確的直觀粒度形貌,控制好產品質量。
應用領域
1、金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉。
2、玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農藥、催化劑等各種粉體或漿料。
3、也可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
顆粒粒形粒度分析儀參數指標
序號 | 項目 | 指標 |
1 | 分析項目 | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
2 | 測試范圍 | 0.5~3000μm |
3 | 放大倍數 | ≤4000倍 |
4 | 光學放大倍數 | 1600倍 |
5 | 分辨率 | ≥0.1μm |
6 | 顯微鏡 | 透反射顯微鏡(可選配國產/金相/進口) |
7 | 數字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 |
8 | 目鏡 | 10X 、16X |
9 | 物鏡 | 4X 、10X 、20X、 40X、100X |
10 | 標尺刻度 | 10μm |
11 | 軟件運行環境 | Windows7 32位 |
12 | 接口方式 | USB接口高速穩定傳輸 |
儀器優點
1. 軟件分析與處理功能
1.1 通過圖像分析軟件可直接觀察顯微鏡下的顆粒形貌,并進行圖片采集。圖片可保存為JPG或BMP格式;軟件采集圖像后可調整圖像高度、寬度、分辨率等。根據不同倍數物鏡采集的圖像可設置相應標尺或網格,直觀顆粒大小。
1.2 自由切換粒徑單位,標尺支持多種單位選擇,可在微米和毫米、厘米、英寸之間自由切換,方便小顆粒和大顆粒的進一步處理。
1.3 圖像分析處理
1.3.1 色調處理:灰度化、色調調整、亮度、對比度調整;
1.3.2 圖像矯正:水平鏡像、垂直鏡像、90度(逆時針)、90度(順時針)、旋轉、放大、縮小、任意比例縮放等;
1.3.3 測量單位:微米、毫米、厘米、英吋(任選);
1.3.4 圖像增強:對比度均衡、膨脹、腐蝕等;
1.3.5 圖像處理:圖像銳化,邊緣平滑,二值化,面積濾波、邊界濾波,分析目標擦除、孔洞填充,手工擦除,手工連接,粒子屬性查看等功能;
1.4 可以對多幅圖形進行批量處理,增加顆粒數量,提高樣品的代表性,使處理結果更加準確、真實、可靠;
1.5 軟件功能強大,可根據行業特殊要求,設計磨料、硅灰石等專用軟件。
2.報告輸出
2.1 通過對圖像進行處理后,電腦自動統計出顆粒個數、面積、周長、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布、粒度分布數據,以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。
2.2 可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中,樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭,可選多種報告格式。
測試報告