梅特勒XS系列標準型分析天平特點：
梅特勒-托利多，XS超越系列分析天平展示世界的稱量性能、的符合人體工學的操作體驗及良好的數據管理解決方案。它們*遵循行業法規的要求，確保更高的生產效率并使操作更安全。

■ 采用高精度、高分辨率后置式傳感器，獲得準確稱量結果

■ 全自動校準技術（FACT） - 溫度漂移觸發的天平自動內校，內置兩組砝碼實現線性誤差校準，確保稱量結果的準確性

■ 變量程設計（DeltaRange）和雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求

■ 革命性的網格稱量盤（SmartGrid）、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計，獲得快速、穩定的稱量結果

■ 易巧稱量組件（ErgoClips），方便客戶使用不同去皮容器進行稱量

■ 觸摸屏技術（Touch screen），方便天平稱量菜單和參數設置

■ 可移動的顯示控制終端，方便天平使用

■ *可拆卸的防風罩設計，實現天平的快速清潔

■ 內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備

■ 優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求

■ 具有簡單稱量、統計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序

■ e-Loader II軟件，實現更便捷的天平軟件更新

梅特勒XS系列標準型分析天平技術參數：

型 號
XS105DU
XS205DU
XS64
XS104
XS204
XS24DR

雙量程
雙量程

變量程

可讀性
0.1mg
0.1mg
0.1mg
0.1mg
0.1mg
1mg

可讀性，精量程
0.01mg
0.01mg
-
-
-
0.1mg

zui大稱量值
120g
220g
61g
120g
220g
220g

zui大稱量值，精量程
41g
81g
-
-
-
220g

10g重復性（s）
0.02mg
0.02mg
0.07mg
0.07mg
0.07mg
0.1mg

線性誤差
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.2mg
0.5mg

1/2zui大稱量值⑴四角誤差
0.3mg
0.3mg
0.3mg
0.3mg
0.3mg
0.3mg

靈敏度漂移
0.0004%
0.0004%
0.0004%
0.0004%
0.0004%
0.0004%

靈敏度溫度漂移⑵
0.00015%/℃
0.00015%/℃
0.00015%/℃
0.00015%/℃
0.00015%/℃
0.00015%/℃

靈敏度穩定性⑶
0.0002%/α
0.0002%/α
0.0002%/α
0.0002%/α
0.0002%/α
0.0002%/α

典型稱量時間⑷
6s
6s
4s
4s
4s
4s

接口更新速率
23/s
23/s
23/s
23/s
23/s
23/s

防風罩有效高度（mm）
235
235
235
235
235
235

秤盤尺寸（W×D）（mm）
78×73
78×73
78×73
78×73
78×73
78×73

天平外形尺寸（W×D×H））
236×453×322mm