高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準（F28-75）及國家標準GB/T1553-1997設計制造，廣泛應用于工廠的常規測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。

少子壽命測試儀配置：

光脈沖發生裝置（重復頻率＞25次/s    脈寬≥60μs           光脈沖關斷時間＜5μs
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電源：5A～20A）
高頻源（頻率：30MHz        低輸出阻抗            輸出功率＞1W）
放大器和檢波器（頻率響應：3Hz～1MHz）
配用示波器（配用示波器：頻帶寬度不低于10MHz    Y軸增益及掃描速度均應連續可調
如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源）
壽命測試范圍：10~6000μs
主機外形尺寸：W470×D365×H155
總重量：12Kg
電源：～220V  50Hz    功耗＜50W