ST8000光學薄膜測厚儀
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- 公司名稱 北京燕京電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地 美國
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2017/7/13 0:21:06
- 訪問次數 792
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等離子，清洗機微小信號測量儀;頻率特性分析儀;信號發生器;高速雙極型放大器;生體計測系統;濾波器;計測系統;LCR儀表;AE計測裝置;微小信號測量儀;鎖相放大器;鎖相電壓表;超低噪聲放大器;前置放大器;隔離放大器;交流電源;變頻電源;仿真電源;功率放大器;可編程濾波器;低噪聲放大器
ST8000光學薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上，利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產品。 這種產品主要用于研究開發或生產導電體薄膜現場，特別在半導體及有關Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。
ST8000光學薄膜測厚儀產品特性
1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a
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