CMI900-M 膜厚儀
參考價 | ¥ 200000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳鼎極天電子有限公司
- 品牌
- 型號 CMI900-M
- 產地 美國芝加哥
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2018/4/3 17:10:15
- 訪問次數 663
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牛津儀器CMI900膜厚儀
膜厚儀技術規格和介紹
可測量元素范圍:Ti22–U92;
可同時測定5層/15種元素/共存元素較正;
也可進行鍍層的單層測量。
測量精度:
被測元素厚度﹤20μin(0.5μm)時,第1層元素測量誤差±1μin,第2層元素測量誤差±2μin,第3層元素測量誤差±3μin,
被測元素厚度>20μin(0.5μm)時,第1層元素測量誤差±5%,第2層元素測量誤差±10%,第3層元素測量誤差±15%,
測量斑點尺寸:
在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器)
在12.7mm聚焦距離時,zui大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器)
測厚范圍:取決于您的具體應用
X射線管采用垂直下照式,空冷式微聚焦型,W靶(可選用Rh、Mo、Ag等)、50W,且裝備有安全防射線光閘。
準直器:可配置單準直器或多準直器,配多準直器時zui多可同時裝配6種規格的準直器;又分為圓形、矩形準直器;
圓形準直器規格:4、6、8、12、13、20mil(即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm)等
矩形準直器規格:1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil
(即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm)等
觀察系統選用30倍(可選用50倍和100倍)高分辨彩色CCD觀察系統,具有激光自動對焦功能、變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品臺:zui大尺寸610mm x 610mm,為開槽式樣品室;分固定臺、程控臺、自動臺,其Z軸為自動控制,移動高度43.18mm;固定臺、程控臺的X、Y軸為手動控制;自動臺的X、Y軸為自動控制,移動范圍152.4 x 177.8mm。
分析應用軟件:Windows XP中文平臺、SmartLink FP分析軟件包
牛津儀器CMI900的功能強大,具備有如下的功能:
基本分析功能:
檢測元素范圍:Ti22 –U92;
同時測定5層/15種元素/共存元素校正;
貴金屬檢測,如Au karat評價;
材料和合金元素分析;
材料鑒別和分類檢測;
元素光譜定性分析
調整和校正功能:系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移
測量自動化功能:
鼠標激活測量模式
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式;
測量位置預覽功能;
激光對焦和自動對焦功能
樣品臺程控功能:設定測量點、連續多點測量、測量位置預覽
統計計算功能:
平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
系統安全監測功能:Z軸保護傳感器、樣品室門開閉傳感器