標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 A1型

    本品用于磁粉探傷時對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件檢驗時，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢驗探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷操作中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量，是磁粉探傷*的調(diào)試工具。

標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 A1型 符合JB/T6065-2004標(biāo)準(zhǔn)

    標(biāo)準(zhǔn)磁探片是磁粉探傷*的工具，用于檢驗磁粉探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。規(guī)格1#-15/100；2#-30/100；3#-60/100；4#-7/50；5#-15/50；6#-30/50；6種規(guī)格，后三種適用于曲率的探傷面，6片/套。