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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>臺階儀> 全自動臺階儀 JS3000B

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全自動臺階儀 JS3000B

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廣州領(lǐng)拓(L-Victor)成立于2009年, 是一家致力于材料測試儀器儀表領(lǐng)域,并提供失效分析和可靠性分析整體解決方案的企業(yè)。公司秉承著“以誠信為準(zhǔn),以質(zhì)量為勝,以客戶*”的經(jīng)營理念,為客戶提供材料失效分析測試方案、材料物性測試分析方案、材料微觀檢測分析方案、材料測試領(lǐng)域品牌產(chǎn)品設(shè)備、材料測試領(lǐng)域的經(jīng)驗知識共享與交流,以及售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案和售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)等一整套完善的服務(wù)支持,從而大限度的滿足用戶的需求。

領(lǐng)拓代理的產(chǎn)品有:美國Buehler,美國Wilson,德國Leica,Carbolite*Gero,德國Eltra,德國Retsch,德國Microtrac MRB,加拿大Creaform,德國Memmert,韓國EM科特,荷蘭TQC等品牌,擁有50年以上的生產(chǎn)及應(yīng)用經(jīng)驗。

領(lǐng)拓?fù)碛性O(shè)備齊全的實驗室和強(qiáng)大的應(yīng)用團(tuán)隊,應(yīng)用工程師均為材料科班出身,兼具豐富的實踐經(jīng)驗,必能為您提供應(yīng)用解決方案。領(lǐng)拓展示出豐富的技術(shù)經(jīng)驗和可靠的商業(yè)信用,一直在業(yè)界內(nèi)享有很高的美譽(yù)。

領(lǐng)拓業(yè)務(wù)立足于華南,發(fā)展到西南,影響著全國。客戶包括事業(yè)單位、科研院校及眾多領(lǐng)域企業(yè),客戶群體涉及的行業(yè)包括鋼鐵、汽車、五金、PCB、電子、塑膠、玻璃、晶體、航天航空、新能源、制藥、電廠等等。

領(lǐng)譽(yù)同行,拓展未來——領(lǐng)拓將持續(xù)以雄厚的實力,重信用、守合同、保質(zhì)量的決心,向廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和完備的解決方案。
(地址:中國廣州市番禺大道北555號天安科技園總部6號樓)







儀器和消耗品

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合

全自動臺階儀 JS3000B

• 產(chǎn)品介紹

澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能,可以對微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量,在高校、研究實驗室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。

JS系列臺階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號,結(jié)合高靈敏度傳感器與信號處理算法,實現(xiàn)納米級精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測量過程的穩(wěn)定性。此外,設(shè)備搭載的攝像頭實時成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針尖的位置關(guān)系,輔助用戶精確定位特征結(jié)構(gòu),顯著提升測量效率。

作為國產(chǎn)科學(xué)儀器的突破性成果,JS系列臺階儀打破了國外品牌在表面測量設(shè)備領(lǐng)域的長期壟斷,憑借高性價比與本地化服務(wù)優(yōu)勢,成為國內(nèi)高校、科研機(jī)構(gòu)及制造企業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。 


• 特點

量測精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設(shè)計、售后便捷、高性價比


• 應(yīng)用范圍

▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量

▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量

▲ 各式薄膜等應(yīng)力測量

▲ 3D掃描成像

▲ 計劃任務(wù)和多點掃描

▲ 批量測試晶圓,批量處理數(shù)據(jù)等


• 系統(tǒng)組成

▲ EFEM(LP+ROBOT+ALINGER)

▲ JS300B


• 選配品

▲ 高度校準(zhǔn)標(biāo)樣

▲ FFU模塊

▲ 靜電消除模塊

▲ E84接口


• 技術(shù)參數(shù)


JS3000B

臺階高度最大范圍

≤80um

臺階高度重復(fù)性

≤0.5nm

垂直分辨率

0.05nm

探針加力范圍

0.5mg~50mg

單次掃描長度

≤55mm

晶圓尺寸

可兼容8寸、12寸Wafer

晶圓厚度

≤10mm

晶圓材質(zhì)

硅、鉭酸鋰、玻璃等(不透明,半透明,透明)

圖像識別系統(tǒng)精度

定位精度優(yōu)于±10um

機(jī)械動作穩(wěn)定性

馬拉松傳送測試>500片

生產(chǎn)效率

WPH≥10片(單面量測≥5個位置)

臺階高度最大范圍

≤80um

標(biāo)準(zhǔn)探針

曲率半徑≥2um角度60°(標(biāo)配)

亞微米探針

曲率半徑≤1um角度60°(選配)

軟件功能

數(shù)據(jù)處理:臺階、粗糙度、平整度和翹曲度測量;

應(yīng)力測試和3D掃描成像

數(shù)據(jù)通訊:SECS通訊接口





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