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日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/4/23 15:36:46
  • 訪問次數(shù) 98

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┑臏y試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù),提供通用測試產(chǎn)品,示波器、邏輯分析儀、信號源、交流、直流電源、數(shù)據(jù)采集器、交流、直流電子負(fù)載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測試、 電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測試儀。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng),電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),并提供專家級的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測試儀器銷售、 計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)以及面向企業(yè)級客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù),產(chǎn)品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、 航空航天,科研院所大學(xué)等行業(yè), 我們嚴(yán)格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶,幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國市場越來越多的進(jìn)口設(shè)備進(jìn)入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*,價格昂貴的設(shè)備因?yàn)闆]有合理的配備而閑置,對于每一個面對競爭的企業(yè)來說,這種浪費(fèi)是致命的,我們認(rèn)為我們必須了解客戶的需求,將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實(shí)現(xiàn)合理的配置同時提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案、計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù)。
      新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作,憑借便捷的進(jìn)貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務(wù),成為電子測試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。


示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,電氣
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡

JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM” 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。操作的自動化和觀察性能的提高,可以實(shí)現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。

清晰的可見性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)!

目前,除了納米級的分辨率和分析性能外,數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM” 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。

JSM-IT710HR操作的自動化和觀察性能的提高,可以實(shí)現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。

///  超越所見,探索未知 ///



日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡



日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡


日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡


降低荷電:  樣品提供:東京農(nóng)工大學(xué) 工學(xué)部生命工學(xué)科  朝倉哲郎先生

晶體結(jié)構(gòu)分析:  樣品提供:物質(zhì)材料研究所(NIMS)  津﨑 兼彰先生

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   新功能                                                                                                                              

1. 自動觀察:Simple SEM/EDS

    Simple SEM 通過一次設(shè)定多個條件來實(shí)現(xiàn)自動測試,提高了日常工作效率。


日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡

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2. Live 3D: 實(shí)時3D

    在低倍率下可以觀察3D活圖像。


日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡

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3. 低真空混合二次電子檢測器(LHSED)

    LHSED是新型低真空檢測器,能夠在光發(fā)射信息和形貌像之間切換觀察。



日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡


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4. 肖特基場發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性提高了4倍多

> 自動電子束調(diào)整

    JSM-IT7010HR從合軸到像散、對焦可以自動調(diào)整,不需繁瑣的手動。



日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡


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> 二次電子檢測系統(tǒng)



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     左側(cè)樣品:孔雀羽毛,  右側(cè)樣品:纖維素微纖維



> 高分辨率和大束流

     JSM-IT710HR的肖特基場發(fā)射電子槍和聚光鏡一體化集成,在生成大束流的同時保持小束斑,能夠進(jìn)行高分辨觀察和分析。



> 背散射電子檢測系統(tǒng)

     新型的多分割背散射檢測器可以同時從4個方向采集背散射信息,生成簡單的3D像并實(shí)時顯示。



5. 所有分析都從Zeromag開始

   使用Zeromag的光學(xué)像,視野搜尋能力提高;SEM像與光學(xué)像聯(lián)動,觀察、分析和自動測試簡單化。



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6. EDS一體化集成

   JEOL除了SEM,還自主生產(chǎn)和銷售EDS。利用這一優(yōu)勢,可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結(jié)果,操作性和數(shù)據(jù)管理能力得到了提高。



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7.  相分析

     JEOL的EDS增加了相分析功能,可以對每種物質(zhì)(化合物/單體)進(jìn)行面分布分析。


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樣品:精密切削刀片的截面

相分析表明,Co、Cu和Sn富區(qū)組分存在差異。



Co area: 68.15%

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CuSn (CuRich) area: 16.25%

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CuSn (SnRich) area: 14.54%

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   應(yīng)用實(shí)例                                                                                                                          

1. 電子器件

    JSM-IT710HR的應(yīng)用特性:高分辨、高對比度、廣域觀察。



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》布線圖

利用低真空功能,對布線圖表面進(jìn)行大面積觀察。

樣品:布線圖表面, 倍率:×200 (左), ×300 (右), 真空壓力: 70 Pa, 加速電壓: 15 kV


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》SRAM


日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡

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》AL焊盤

通過同時獲取低真空二次電子像和背散射電子像,可以獲取大面積試樣表面的形貌信息和成分信息。

樣品:AL焊盤表面,  倍率: ×100, 真空壓力: 70 Pa, 加速電壓: 15 kV



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》鋼鐵

適用于EBSD分析的光學(xué)系統(tǒng)(肖特基場發(fā)射槍和透鏡外物鏡)




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》能源和陶瓷

JSM-IT710HR的分析能力和低真空功能


鈣鈦礦太陽能電池基片納米層的高精度分析

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陶瓷基片(Si3N4)

低真空功能可以進(jìn)行非導(dǎo)電樣品分析


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加速電壓: 5 kV, 低真空元素面掃 (30 Pa), 機(jī)器銑削的氮化硅基片表面*

*表面光潔度:機(jī)銑后平面氬離子銑



》軟質(zhì)材料與生命科學(xué)

JSM-IT710HR 的低加速電壓、低真空功能以及超低倍率觀察


ABS樹脂

即使在幾萬倍的放大倍數(shù)下,也可以進(jìn)行高精度和穩(wěn)定亮度的多幅圖像觀察。


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明膠

高亮度,高分辨二次電子像


日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡



人造血管

在載玻片上從低倍率到高倍率觀察生物樣品。

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