PCBA高溫老化房
參考價 | ¥ 38500 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 武漢安德信檢測設(shè)備有限公司
- 品牌 安德信
- 型號
- 產(chǎn)地 湖北省武漢市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)東風(fēng)大道楓樹產(chǎn)業(yè)園
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/4/21 14:43:18
- 訪問次數(shù) 98
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高溫老化房、恒溫老化房、老化室、高低溫試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、淋雨試驗箱、砂塵試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、快速溫變試驗箱、臭氧老化試驗箱、紫外老化試驗箱、鹽水噴霧試驗機(jī)、高溫老化試驗箱
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
一、PCBA高溫老化房主要作用:
1.提高產(chǎn)品可靠性:通過高溫老化測試,能夠加速 PCBA 中潛在的缺陷和故障暴露,如元器件的早期失效、焊接不良等,從而在產(chǎn)品出廠前及時發(fā)現(xiàn)并解決問題,提高產(chǎn)品的整體可靠性和穩(wěn)定性。
2.模擬實際使用環(huán)境:PCBA 在實際使用過程中會受到各種環(huán)境因素的影響,如高溫、濕度等。高溫老化房可以模擬這些環(huán)境條件,讓 PCBA 在類似實際使用的環(huán)境下進(jìn)行測試,更準(zhǔn)確地評估其在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。
3.優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)工藝:通過對老化測試中出現(xiàn)的問題進(jìn)行分析,可以為產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)工藝的改進(jìn)提供依據(jù),有助于優(yōu)化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、選擇合適的元器件和改進(jìn)生產(chǎn)工藝,提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
二、PCBA高溫老化房主要結(jié)構(gòu)組成:
1.房體結(jié)構(gòu):通常采用雙面彩鋼板作為外殼材料,具有強(qiáng)度高、外形美觀、耐腐蝕等優(yōu)點。中間填充高強(qiáng)度巖棉等保溫材料,厚度一般為 50mm 左右,起到良好的阻燃、保溫和隔音效果。
2.溫度控制系統(tǒng):由高精度溫度傳感器、智能 PID 控制器和加熱元件等組成。溫度傳感器均勻分布在老化房內(nèi),實時監(jiān)測溫度變化,并將數(shù)據(jù)反饋給控制器。控制器根據(jù)預(yù)設(shè)溫度與實際溫度的偏差,調(diào)節(jié)3.加熱元件的功率,實現(xiàn)精準(zhǔn)控溫,溫度波動度一般可控制在 ±1℃以內(nèi)。
4.送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng):采用高品質(zhì)、大風(fēng)量循環(huán)風(fēng)機(jī),通過合理設(shè)計的風(fēng)道,形成強(qiáng)制對流,使熱空氣在老化房內(nèi)均勻分布,確保房內(nèi)各部位溫度一致。風(fēng)機(jī)通常采用三相電機(jī),運轉(zhuǎn)平穩(wěn)、低噪音、功率低、節(jié)能。
5.照明與觀察系統(tǒng):配備防爆照明燈,如 50W 防爆照明燈,為房內(nèi)提供充足的照明,方便操作人員觀察房內(nèi)情況。同時,在房體上設(shè)置玻璃觀測視窗,便于在不打開房門的情況下觀察 PCBA 的老化狀態(tài)。
6.電氣系統(tǒng):包括電源配電箱、漏電保護(hù)裝置、缺相保護(hù)裝置等,為老化房的各個部件提供穩(wěn)定的電源,并確保設(shè)備運行的安全性。
三、高溫老化房技術(shù)參數(shù):
1.溫度范圍:常溫+10℃-80℃;(無負(fù)載情況下實測)
2.老化房外部尺寸:15000x3000x3000(L*W*H)mm
3.溫度均勻度:±5℃;(無負(fù)載情況下實測)
4.溫度波動度:±0.5℃
5.升溫時間:常溫至80℃小于60分鐘
6.運行方式:溫度可調(diào),恒定運行
7.安裝電源:AC~380V;50Hz
8.噪音大小:≦75分貝
9.設(shè)備使用功率:約36KVA
五、參照標(biāo)準(zhǔn)及驗收方式:
本設(shè)備參照國家環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)規(guī)范精工制造,有效模擬氣候環(huán)境對產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗。具體參照標(biāo)準(zhǔn)和國家環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)如下。
1. GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》