日本電子 JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
品牌 其他品牌
型號 日本電子
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2025/4/15 11:53:23
訪問次數(shù) 226

產(chǎn)品標簽

JEM-ARM300F2 電子顯微鏡無磁場透射電子顯微鏡日本電子

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公司介紹 主營產(chǎn)品

深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領(lǐng)域為客戶提供的測試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù)，提供通用測試產(chǎn)品，示波器、邏輯分析儀、信號源、交流、直流電源、數(shù)據(jù)采集器、交流、直流電子負載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測試、電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測試儀。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案，專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng)，電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng)，并提供專家級的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測試儀器銷售、計量校準、維修維護以及面向企業(yè)級客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù)，產(chǎn)品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、航空航天，科研院所大學(xué)等行業(yè)，我們嚴格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶，幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國市場越來越多的進口設(shè)備進入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*，價格昂貴的設(shè)備因為沒有合理的配備而閑置，對于每一個面對競爭的企業(yè)來說，這種浪費是致命的，我們認為我們必須了解客戶的需求，將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實現(xiàn)合理的配置同時提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性，并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作，為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案、計量校準、維修維護和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù)。
新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作，憑借便捷的進貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務(wù)，成為電子測試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。

展開

示波器,電子負載,熱像儀，邏輯分析儀，頻譜分析儀，數(shù)據(jù)采集器，安規(guī)綜合測試儀，交直流電源，電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案，

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產(chǎn)地類別	進口	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,電氣

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點

1. FHP2 新型物鏡極靴

保證超高空間分辨率觀察的同時，優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs（158mm2）的需求，x射線有效檢測效率提高了兩倍以上，實現(xiàn)亞埃級分辨率的EDS元素面分析。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

2. 新型屏蔽體

TEM柱采用箱式外殼，可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響，從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

快速準確的像差校正

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

4. 穩(wěn)定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對各種干擾的抵抗力。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

5. OBF System (可選件) *

在新的成像方法“OBF STEM（最佳明場 STEM）”中，通過分段式 STEM 探測器獲取的原始圖像被用作相位圖像重建的來源，并使用專用的傅里葉濾波器來所恢復(fù)圖像的信噪比。這種有前景的方法即使在極低的電子劑量條件下也能實現(xiàn)重元素和輕元素的更高對比度。對于標準 ADF 和 ABF STEM 方法難以觀察的對電子束敏感的材料，也可以在廣泛的放大倍數(shù)范圍內(nèi)以更高的對比度輕松進行分析。K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)

6. STEM 低劑量成像

包括金屬有機框架（MOFs）和沸石在內(nèi)的對電子束敏感的材料需要降低電子劑量（通常，探針電流< 1.0 pA），同時保持輕元素框架的清晰原子對比度。對于此類低劑量實驗，OBF STEM 具有優(yōu)勢，能夠?qū)崿F(xiàn)原子分辨率下的超高劑量效率 STEM 成像。

OBF STEM 圖像 MOF MIL-101（左）和 MFI 沸石（右）均在單次拍攝中獲得，右插圖中的 FFT 圖案也能觀察到 1 埃的高空間分辨率。此外，堆疊圖像平均（左插圖）證實了分辨率和對比度達到了很好的平衡。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

左圖：Sample : MOF MIL-101

Instrument : JEM-ARM300F2，Accelerating Voltage : 300 kV，Convergence Semi-angle : 7 mrad，Probe current : < 0.15 pA，（Insets) FFT pattern and 50 frames averaged image

右圖：Sample : MFI Zeolite

Instrument : JEM-ARM300F2，Accelerating Voltage : 300 kV，Convergence Semi-angle : 16 mrad，Probe current : 0.5 pA，（Insets) FFT pattern

Sample courtesy of Prof. Zhenxia Zhao, Guangxi University

7. 高對比度輕元素成像

除了具有很高的劑量效率外，OBF STEM 在輕元素成像方面也具有優(yōu)勢。即使在較低的加速電壓下，也能實現(xiàn)輕元素的高對比度和高空間分辨率成像。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡