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JW-EDX6000E 熒光光譜儀
- 公司名稱(chēng) 上海巨為儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 jooway/巨為
- 型號(hào) JW-EDX6000E
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2025/4/11 12:03:52
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 84
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步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室廠(chǎng)家、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室價(jià)格、步入式恒溫恒濕老化房、步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室、步入式恒溫恒濕室定做
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材/家具,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣 |
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1:名稱(chēng)及特點(diǎn):
1.1. 產(chǎn)品名稱(chēng)及型號(hào):(JOOWAY x-ray)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀-------JW-EDX6000E
1.2. 制造商:巨為儀器股份有限公司
熒光光譜儀
1.4. 工作條件:
● 工作溫度:15~30℃
● 相對(duì)濕度:40%~80%
● 電 源:AC220V±5V
1.5.產(chǎn)品特點(diǎn)
1.5.1 EDX6000E可專(zhuān)門(mén)針對(duì)金屬鍍層厚度進(jìn)行分析。
1.5.2打破傳統(tǒng)儀器直線(xiàn)的設(shè)計(jì),采用流線(xiàn)體的整體化設(shè)計(jì),儀器簡(jiǎn)潔大方。
1.5.3采用美國(guó)最新型的Si-pin探測(cè)器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。
1.5.4采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng),有效提高測(cè)量的靈敏度,測(cè)量更精確。
1.5.5七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換。
1.5.6多重防輻射泄露設(shè)計(jì),輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類(lèi)產(chǎn)品高級(jí)之一。
1.5.7優(yōu)良的一體化散熱設(shè)計(jì),使整機(jī)散熱性能得到極大提高,保證了核心部件的運(yùn)行安全。
1.5.8好的機(jī)芯溫控技術(shù),保證X射線(xiàn)源的安全可靠運(yùn)行,有效延長(zhǎng)其使用壽命,降低使用成本。
1.5.9多重儀器部件保護(hù)系統(tǒng),并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程監(jiān)控,儀器工作更穩(wěn)定安全。
1.5.10專(zhuān)用測(cè)試軟件,標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì),界面友好,操作方便。
1.5.11采用USB2.0接口,有效保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、高速的傳輸。
2熒光光譜儀.儀器硬件主要配置
2.1 Si-pin電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器
2.1.1. Si-pin電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器;分辨率:149±5eV。
2.1.2. 放大電路模塊:對(duì)樣品特征X射線(xiàn)進(jìn)行探測(cè),將探測(cè)采集的信號(hào)進(jìn)一步放大。
2.2 X光管(專(zhuān)用小焦點(diǎn)X光管):
2.2.1 燈絲電流:最大1mA。
2.2.2 屬于半損耗型部件,50W空冷。
2.3 高低壓電源:
2.3.1.電壓最大輸出:50kV。
2.3.2.最小5kv可控調(diào)節(jié)。
2.3.3.自帶電壓過(guò)載保護(hù)。
2.4 多道分析器:
2.4.1. 將采集的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),并將處理結(jié)果提供給上位機(jī)軟件。
2.4.2 最大道數(shù):4096。
2.4.3 包含信號(hào)增強(qiáng)處理。
2.5光路過(guò)濾模塊
2.5.1 降低X射線(xiàn)光路發(fā)送過(guò)程中的干擾,保證探測(cè)器接收信號(hào)準(zhǔn)確。
2.5.2 將準(zhǔn)直器與濾光處組合;
2.6 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換模塊
2.6.1 多種選擇,口徑分別為8、4、2、1、0.5mm。
2.7濾光片自動(dòng)切換模塊
2.7.1五種濾光片的自由選擇和切換。
2.8準(zhǔn)直器和濾光片自由組合模塊
2.8.1多達(dá)幾十種的準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合。
3.金屬鍍層專(zhuān)用分析軟件
3.1 元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U)。
3.2 分析檢出限可達(dá)0.01μm。
3.3 分析厚度一般為0.1μm至30μm之間。
3.4 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1μm(對(duì)于小于1μm的最外層鍍層)。
3.5 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1μm(對(duì)于小于1μm的最外層鍍層)。
3.2.1 元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U)
3.2.2 一次可同時(shí)分析 24 個(gè)元素
3.2.3 分析檢出限可達(dá) 100PPM
3.2.4 含量分析范圍一般為 100ppm—99.9%
3.2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計(jì)算方法
3.2.6 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá) 0.1%
熒光光譜儀
3.3.1 元素含量分析范圍為 2PPm 到 99.99%
3.3.2 測(cè)量時(shí)間:60-200 秒
3.3.3 RoHS 指令規(guī)定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其檢測(cè)限度最高達(dá) 2PPM
3.2.9 軟件自帶多種圖像處理和計(jì)算方法
4.1 樣品腔:開(kāi)放式大樣品腔。
4.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品:鍍層標(biāo)樣。
5.熒光光譜儀產(chǎn)品保修及售后服務(wù)
5.1 免費(fèi)對(duì)客戶(hù)方操作人員進(jìn)行培訓(xùn)。
5.2 安裝、調(diào)試、驗(yàn)收、培訓(xùn)及售后服務(wù)均為免費(fèi)在用戶(hù)方現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行。
5.3正常使用,經(jīng)本公司確認(rèn)屬工藝或材質(zhì)缺陷引起的故障,且未經(jīng)拆修,儀器自驗(yàn)收合格之日起保修壹年。
5.4 產(chǎn)品終身維修(客戶(hù)必須有填寫(xiě)詳細(xì)、真實(shí)的有效購(gòu)買(mǎi)憑證,發(fā)票和保修卡等)。
5.5 免費(fèi)提供軟件升級(jí)。
5.6 提供有效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶(hù)故障信息后,2小時(shí)內(nèi)響應(yīng),如有需要,24小時(shí)內(nèi)派人上門(mén)維修和排除故障。
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