恒鼎光  紅外波長 窄帶干涉濾光片產品簡介

恒鼎光  紅外波長 窄帶干涉濾光片采用多層介質膜技術，專為精準光譜選擇設計，可在特定波長（如可見光、近紅外等波段）實現高透過率（>80%）及窄半高寬（10nm），同時有效抑制背景雜散光。適用于激光系統、光譜分析、熒光檢測、光纖通信及生物醫學成像等領域。具有優異的環境穩定性（耐溫、耐濕）、低角度敏感性和長壽命特性，支持定制化中心波長與帶寬需求，助您提升光學系統精度與信噪比。

工作原理

多層薄膜干涉：

通過精密鍍膜工藝，在光學基材（紫外融石英材料）表面沉積數十層納米級介質薄膜。每層薄膜的厚度與折射率經過精確計算，使不同波長的光在膜層間發生相長干涉（增強目標波長）或相消干涉（抑制非目標波長），最終僅允許特定窄帶光線（如254±2nm）透過。

窄帶特性控制：

通過優化膜系結構，可精準調控濾光片的中心波長（如254nm）、帶寬（如10nm）及截止深度，確保紫外信號的純凈性與穩定性。

窄帶干涉濾光片的核心用途
窄帶干涉濾光片通過精準選擇特定波長光信號，在復雜光環境中實現高效光譜分離，核心用途包括：

1. 激光技術

• 純化激光波長，濾除非目標波段雜光，確保激光器輸出單色性和穩定性。

2. 光譜分析與檢測

• 用于分光光度計、拉曼光譜儀等設備，提升光譜分辨率，精準分離微弱特征峰（如氣體檢測、材料分析）。

3. 熒光成像與生物醫學

• 在熒光顯微鏡或流式細胞術中，高效捕獲特定熒光標記信號（如GFP、RFP），抑制激發光干擾，提升成像對比度。

4. 光纖通信

• 濾除非通信波段噪聲（如C波段、L波段），優化波分復用（WDM）系統信號質量。

5. 機器視覺與工業檢測

• 針對目標物特征波長（如紅外缺陷檢測、顏色分選），增強檢測靈敏度與準確性。

核心價值：通過超高波長選擇性與低噪聲透過，顯著提升光學系統的靈敏度、分辨率及信噪比，是精密光學儀器的關鍵元件。

產品性能

• 高透過率：峰值透過率＞50%（特定波長）

• 窄帶寬：半高寬（FWHM）10nm

• 截止深度：截止區OD4

• 抗損傷閾值：≥500mJ/cm2（脈沖激光適用）

• 基底材質：紫外熔融石英

環境監測
水質COD/重金屬檢測 | 氣體O?/SO?光譜分析

生物醫療
核酸熒光成像 | UVC強度監測

工業質檢
材料紫外探傷 | 熒光防偽識別

科研實驗
光催化反應控制 | 光學系統