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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>信號測試系統/半導體測試機>BW-4022C 光耦晶振綜合測試系統

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BW-4022C 光耦晶振綜合測試系統

具體成交價以合同協議為準

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陜西博微電通科技有限責任公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子設備、電池安全管理系統及電力儲能解決方案的研發、生產、銷售的高科技企業。

公司位于古城西安西咸新區灃東新城能源金貿區,地理位置環境*,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質人才隊伍,從軟件開發、硬件設計、系統集成、產品升級迭代及售后服務均由專業技術人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業合作開發出針對半導體測試、電力電子、能源管理系統系列產品,經過技術迭代,產品功能全面,產品質量可靠,市場口碑優秀。

   公司注重產品質量注重客戶服務滿意度及產品體驗每一款產品出廠前都經過嚴格的檢驗或第三方機構監測,并持續優化產品功能、根據客戶需求定制或迭代升級產品。我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的、高品質的產品與服務幫助解決客戶實際使用痛點,開發難點,節約生產成本提高工作效率,助力行業發展。

半導體測試系統:(Semiconductor test system)

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導體測試產品,廣泛應用于半導體企業測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應用端產業鏈的來料檢驗、器件選型及科研及院所、實驗室的數據驗證分析和研發指導等。

半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態參數測試(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數)測試精度可達16位ADC;動態雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導體器件測試設備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數測試SCR、安全工作區正偏/反偏/短路安全工作區測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機系統等。

電池安全管理及儲能:(Battery safety management and energy storage system)

電池安全管理系統主要是針對電池、蓄電池組、儲能系統安全及應用電池全生命周期系統解決方案,主要產品覆蓋儲能電池BMS、后備電池BMS、動力電池BMS和電池監控數據平臺等,產品廣泛應用于儲能,云計算,數據中心,通信網絡,軌道交通,以及商業和工業設施關鍵電源領域,將成為國家綠色能源轉型重要系統保障。

 

 

半導體測試設備,功率器件可靠性測試,熱特性安全測試,儲能及電力能源安全管理系統


BW-4022C


半導體綜合測試系統


BW-4022C半導體綜合測試系統可同時針對:

【光耦】

適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。

【二極管】

〖Diode /穩壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。

【壓敏電阻】

〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。

【鋰亞電池】

〖Kelvin/電池空載電壓(Vbt)/負載電壓(Vbt_load )  /測試電流(0-10A 恒流 )/負載電壓變化值(▲Vbt_load)/電池內阻(Vbt Res)  測試。

【晶振】

〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻(Ri)/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍(10kHz~10MHz)等測試。

【其他測試功能可定制拓展】

BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。

BW-4022C 半導體綜合測試系統采用大規模 32 位 ARM&MCU 設計, PC 中文操作界面,程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調用式菜單操作界面,測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,根據不同器件更換測試座配合,系統可適配設置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態參數測試。

該測試系統主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成,并接受客戶端MES系統進行測試指令:方案選取/開始/暫停/停止/數據上傳等操作執行,并可將測試數據上傳至MES系統由客戶端處理。

一、 設備規格與環境要求

物理規格

主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式

主機重量:<25kg

產品色系:白色系

工況環境

主機功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過 1500m;

環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

供電要求

電源配置:AC220V±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續;

二、測試種類與技術指標

1、光耦測試:

輸入(Input)相關參數

· 正向電壓(Forward Voltage)

· 符號:Vf    · 最小值  · 典型值:1.2 V  · MAX值:1.4 V  · 單位:V  · 測試條件:If=20mA

· 反向電流(Reverse Current)

· 符號:Ir  · 最小值:無  · 典型值:無  · MAX值:10 μA  · 單位:μA   · 測試條件:Vr=4V

輸出(Output)相關參數

· 集電極暗電流(Collector Dark Current)

· 符號:Iceo  · 最小值:無  · 典型值:無  · MAX值:100 nA   · 單位:nA   · 測試條件:Vce-20V,If=0

· 集電極 - 發射極擊穿電壓(Collector-Emitter Breakdown Voltage)

· 符號:BVceo  · 最小值:80 V   · 典型值:無   · MAX值:無  · 單位:V   · 測試條件:Ic-0.1mA,If=0

· 發射極 - 集電極擊穿電壓(Emitter-Collector Breakdown Voltage)

· 符號:BVeco   · 最小值:6 V  · 典型值:無  · MAX值:無  · 單位:V   · 測試條件:Ie-10μA,,If=0

· 集電極電流(Collector Current)

· 符號:Ic  · 最小值:2.5 mA  · 典型值:無  · MAX值:30 mA  · 單位:mA  · 測試條件:If=5mA,Vce-5V

· 電流傳輸比(Current Transfer Ratio)

· 符號:CTR  · 最小值:50 %  · 典型值:無  · MAX值:600 %  · 單位:%  · 測試條件:If=5mA,Vce-5V

傳輸特性(TRANSFER CHARACTERISTICS)相關參數

· 集電極 - 發射極飽和電壓(Collector-Emitter Saturation Voltage)

· 符號:Vce  · 最小值:無  · 典型值:0.1 V  · MAX值:0.2 V  · 單位:Vbv  · 測試條件:If=20mA,Ic-1mA

· 隔離電阻(Isolation Resistance)

· 符號:Riso  · 最小值: Ω  · 典型值: Ω  · MAX值:無  · 單位:Ω  · 測試條件:DC500V, 40 - 60% R.H.

(以上參數基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數)

· 三極管管型光耦

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

輸入正向導通壓降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向擊穿電壓(耐壓)

Bvceo1 Bveco1

1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV



3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV



4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV



5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V



反向漏電流

Iceo1 Ir1

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA



5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA



6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA



7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA



輸出導通壓降

Vce(sat)1

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.1%+-2mV

輸入輸出電流傳輸比


2

600


1%+FullRange0.5%+-5

3

6000


1%+FullRange0.5%+-10



4

60000


1%+FullRange0.5%+-20









· 可控硅光耦

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

輸入正向導通壓降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向擊穿電壓(耐壓)

輸入觸發電流

Vdrm  vrrm

ift

1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV



3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV



4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV



5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V



反向漏電流


irrm idrm ir1


1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA



5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA



6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA



7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA








1%+FullRange0.1%+-2mV

輸入LED正向壓降

輸出導通壓降


Vf1

vtm

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.5%+-5

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.5%+-10



0-400ma



1%+FullRange0.5%+-20




vih






ih






IL






C_vtm






· 繼電器光耦

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

輸入正向導通壓降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向擊穿電壓(耐壓)

VL1

VL2


1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV



3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV



4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV



5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V



反向漏電流

Ir1

Ir2

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA



5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA



6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA



7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA



輸出導通內阻

ROn1

ROn2

0-10V

+-10V

0-40A

1%+FullRange0.1%+-2mV

輸入輸出電流傳輸比


2

600


1%+FullRange0.5%+-5

3

6000


1%+FullRange0.5%+-10



4

60000


1%+FullRange0.5%+-20



























2、二極管類測試

· 二極管類:二極管

· Diode

· Kelvin ,Vrrm ,Irrm ,Vf ,△Vf ,△Vrrm ,Tr(選配);

二極管類:穩壓二極管

· ZD(Zener Diode)

· Kelvin ,Vz ,lr ,Vf ,△Vf ,△Vz ;

二極管類:穩壓二極管

· ZD(Zener Diode)

· Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz;

二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)

· Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm;

二極管類: 瞬態二極管

· TVS

· Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm  ;

二極管類:整流橋堆

· Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm;

二極管類:三相整流橋堆

· Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm;

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

正向導通壓降

VF1 VF2 VF3 VF4 VF5  VF6

0-10V

+-10V

0-40A(選配)

0-100A(標配)

0-200A(選配)

0-300A(選配)

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

反向擊穿電壓(耐壓)

Vrrm1 Vrrrm2 Vrrrm3 Vrrm4 Vrrm5  Vrrm6

1

+-1V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2mV



3

+-100V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-20mV



4

+-1000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-200mV



5

+-2000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2V



反向漏電流

Irrm1 Irrm2 Irrm3 Irrm4 Irrm5  Irrm6

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-5nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



3

+-10uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-10nA



4

+-100uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30nA



5

+-1mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-300nA



6

+-10mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-3uA



7

+-100mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30uA


























3、壓敏電阻測試

· Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm  、 △Vr ;(參數配置精度與二極管一致)

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

正向導通壓降

VF1 VF2 VF3 VF4 VF5  VF6

0-10V

+-10V

0-40A(選配)

0-100A(標配)

0-200A(選配)

0-300A(選配)

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

壓敏電壓(1mA)

Vrrm1 Vrrrm2 Vrrrm3 Vrrm4 Vrrm5  Vrrm6

1

+-1V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2mV



3

+-100V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-20mV



4

+-1000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-200mV



5

+-2000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2V



反向漏電流

Irrm1 Irrm2 Irrm3 Irrm4 Irrm5  Irrm6

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-5nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA



3

+-10uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-10nA



4

+-100uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30nA



5

+-1mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-300nA



6

+-10mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-3uA



7

+-100mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30uA


























4、鋰亞電池測試

· Kelvin(0~150mV)

· 電池空載電壓(Vbt)  0-100V  +-0.2%

· 負載電壓(Vbt_load )   0-100V  +-0.5%  測試電流(0-10A 恒流 )

· 負載電壓變化值(▲Vbt_load)0-10v +-5% 測試電流(0-10A 恒流 )

· 電池內阻(Vbt Res)  0-10v +-5%  測試電流(0-10A 脈沖 )

5、晶振測試

· 震蕩頻率(Freq_osc )

· 諧振電阻(Ri)

· 頻率精度(Freq_ppm)

· 測試頻率范圍(10kHz~10MHz)

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

震蕩頻率

Fosc

10kHz~100kHz

100kHz~1MHz

1MHz~5MHz

5MHz~10MHz

10kHz~10MHz


0.1Hz

諧振電阻

Rz

0~100K



±10%

頻率精度

ppm


0-1000


0.01%






三、參數配置與性能指標

1. 電流/電壓源 VIS自帶VI測量單元

1)加壓(FV)

量程

分辨率

精度

±40V

19.5mV

± 1%設定值+FullRange0.1%± 19.5mV

±20V

10mV

±1% 設定值+FullRange0.1%±10mV

±10V

5mV

±1% 設定值+FullRange0.1%±5mV

±5V

2mV

±1% 設定值+FullRange0.1%±2mV

±2V

1mV

±1% 設定值+FullRange0.1%±2mV







2)加流(FI):

量程

分辨率

精度

±100A

195mA

±2% 設定值+FullRange0.1%±100mA

±40A

19.5mA

±2% 設定值+FullRange0.1%±30mA

±4A

1.95mA

±1% 設定值+FullRange0.1%±2mA

±400mA

119.5uA

±1% 設定值+FullRange0.1%±200uA

±40mA

11.95uA

±1% 設定值+FullRange0.1%±20uA

±4mA

195nA

±1% 設定值+FullRange0.1%±200nA

±400uA

19.5nA

±1% 設定值+FullRange0.1%±20nA

±40uA

1.95nA

±2% 設定值+FullRange0.1%±2nA

說明:電流大于1.5A自動轉為脈沖方式輸出,脈寬范圍:300us-1000us可調

3). 電流測量(MI)

量程

分辨率

精度

±100A

12.2mA

±5% 讀數值+FullRange0.2%±100mA

±40A

1.22mA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±20mA

±4A

122uA

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±2mA

±400mA

12.2uA

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±200uA

±40mA

1.22uA

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±20uA

±4mA

122nA

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±2uA

±400uA

12.2nA

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±200nA

±40uA

1.22nA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±20nA









4). 電壓測量(MV)

量程

分辨率

精度

±40V

1.22mV

±1% 讀數值+FullRange0.1%±20mV

±20V

122uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±2mV

±10V

12.2uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±200uV

±5V

1.22uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±20uV










2. 數據采集部分 VM    (16位ADC,100K/S采樣速率)

1). 電壓測量(MV)

量程

分辨率

精度

±2000V

1.22mV

±1% 讀數值+FullRange0.1%±20mV

±100V

122uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±2mV

±10V

12.2uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±200uV

±1V

1.22uV

±0.5% 讀數值+FullRange0.1%±20uV






2). 漏電流測量(MI)

量程

分辨率

精度

±100mA

30uA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±30uA

±10mA

3uA

±1%   讀數值+FullRange0.1%±3uA

±1mA

300nA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±300nA

±100uA

30nA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±30nA

±10uA

3nA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±10nA

±1uA

300pA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±10nA

±100nA

30pA

±1% 讀數值+FullRange0.1%±5nA














3. 高壓源  HVS(基本)16位DAC

1).加壓(FV)

量程

分辨率

精度

2000V/10mA

30.5mV

±0.5% 設定值+FullRange0.1%±500mV

200V/10mA

30.5mV

±0.5% 設定值+FullRange0.1%±500mV

40V/50mA

30.5mV

±0.5% 設定值+FullRange0.1%±500mV









2).加流(FI):

量程

分辨率

精度

10mA

4.88uA

±2% 設定值+FullRange0.1%±10uA

2mA

488nA

±1% 設定值+FullRange0.1%±2uA

200uA

48.8nA

±1% 設定值+FullRange0.1%±200nA

20uA

4.88nA

±1% 設定值+FullRange0.1%±20nA

2uA

488pA

±2% 設定值+FullRange0.1%±10nA









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