Sarspec光譜儀X-RES
- 公司名稱 天津瑞利光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/3/25 9:48:02
- 訪問次數(shù) 134
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| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 應用領域 | 電子/電池,電氣 |
|---|
產(chǎn)品名稱：Sarspec光譜儀X-RES
產(chǎn)品型號：X-RES 1
產(chǎn)品介紹
X-RES 是那些需要高分辨率性能的光譜儀的理想之選，它能夠解析準確度達 0.05 nm (FWHM) 的緊密排列光譜特征。X-RES 安裝在堅固緊湊的光學臺上，焦距為 100 mm，能夠在工作波長范圍內(nèi)提供高的性能和靈敏度以及較大的峰值對稱性，這使得該系列光譜儀成為高分辨率應用的解決方案。
用戶可更換狹縫和光學濾光片、電源狀態(tài)指示器和觸發(fā)功能等功能可將此光譜儀集成到您的設置中。X-RES 提供即用型（適用于更常見的應用）和用戶自定義（適用于更具體的應用）配置，適用于窄 UV-Vis 和 Vis-NIR 范圍以及擴展的 UV-Vis-NIR 范圍。
性能特點
l 非常適合高分辨率應用
l 用戶可更換狹縫和光學濾光片
l 光學分辨率低至 0.05 nm (FWHM)
l 改進的光學設計 - 焦距為 100 mm
l 附帶 LightScan 軟件
選型指南
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：葡萄牙
操作范圍：185-1100 nm（分為 8 個操作范圍）
聚光透鏡：可選（包括在靈敏度提高的版本中）
光纖連接器：SMA 905
觸發(fā)器：輸入/輸出
狹縫尺寸：10 μm（可更換）
探測器：3648 元件Toshiba
集成時間：3ms-214s
軟件：LightScan（包含）
光柵：根據(jù)所選范圍
光學分辨率：0.05 至 0.1 nm
接口：Mini-USB
產(chǎn)品應用
X-RES 是一款具有高分辨率性能的光譜儀，能夠滿足您的高分辨率應用的所有要求。
用戶可更換的狹縫和光學濾光片功能允許您設置 X-RES 以進行更靈敏的測量。這種靈活性與改進的靈敏度相結(jié)合，使該系統(tǒng)成為那些高分辨率應用的解決方案，例如激光器和 LED 的波長特性、監(jiān)測校準源的光譜發(fā)射線或確定元素原子發(fā)射線。
采購中心
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