日本大塚otsuka SMART光學膜厚計測厚儀

可攜帶至現場的手持式，可測量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測量。 不論基材材質、可測量其鍍膜。與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！

光波動場三次元顯微鏡

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。可評價nｍ級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦，可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。可以非接觸、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數值化實現可視化。肉眼無法看到的透明薄膜內部的填充劑，通過一次拍照即可觀察到。此外，通過在測量后改變深度方向的焦點，可以識別到各個深度的填充劑。

ZETA電位·粒徑·分子量測試系統·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

● 可對應從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定，可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態光散射法可測量微流變學

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數，可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量

● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)

日本大塚otsuka SMART光學膜厚計測厚儀