ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)
- 公司名稱 憶璽智能科技(杭州)有限公司
- 品牌 YIXIST/憶璽智科
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/5/28 7:05:49
- 訪問次數(shù) 178
聯(lián)系方式:石經(jīng)理18067966086 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
光纖光譜儀,近紅外光譜儀,拉曼光譜儀,顯微拉曼光譜儀,光譜儀模塊,功率計(jì),物理實(shí)驗(yàn)儀器,光電實(shí)訓(xùn)儀器,光束分析儀,光源等
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
---|
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)簡介
伴隨著21世紀(jì)初光電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,光學(xué)薄膜器件的應(yīng)用向著性能要求和技術(shù)難度更高、應(yīng)用范圍和知識(shí)領(lǐng)域更廣、器件種類和需求數(shù)量更多的方向迅速發(fā)展。為了使學(xué)生適應(yīng)發(fā)展需求、拓展知識(shí)范圍、增加知識(shí)深度、開闊視野和提升能力,開發(fā)了光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn),針對(duì)市場上常用的鍍膜片進(jìn)行研究,從鍍膜的原理到實(shí)際樣品的測試,逐步深入,是學(xué)生了解光學(xué)鍍膜原理和應(yīng)用的良好實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
光譜儀的原理與使用實(shí)驗(yàn);
白光干涉測薄膜厚度實(shí)驗(yàn);
鍍膜介質(zhì)折射率測量實(shí)驗(yàn);
單層膜特性模擬實(shí)驗(yàn);
減反射膜模擬與測試實(shí)驗(yàn);
增反射膜模擬與測試實(shí)驗(yàn);
截止濾光片模擬與測試實(shí)驗(yàn);
帶通濾光片模擬與測試實(shí)驗(yàn);
分光鏡模擬與測試實(shí)驗(yàn);
帶通濾光片的角特性實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)知識(shí)點(diǎn)
減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光干涉、薄膜測厚、能量比、反射率、透過率.
實(shí)驗(yàn)效果圖
實(shí)驗(yàn)原理圖