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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>在線測厚儀> 日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

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日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/2/21 10:37:53
  • 訪問次數 62

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公司簡介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司經營進出口業務7年有余,位于西南地區四川成都;通過不斷努力、進步與各類日本、部分歐美品牌建立長期穩定的合作關系,覆蓋電子產品、工具、電子元器件、儀器儀表、防靜電設備、輔料、自動化設備、非危險性化工產品、機械設備及配件、通信設備。

成都藤田科技供貨渠道

因為長期良好的經營環境,獲得國內外客戶與商社的喜愛,隨著互聯網的發展建立了專有的網絡模式MRO;

堅持以服務客戶為主的經營理念、追求客戶滿意服務為宗旨、禮貌誠信為原則提供客戶服務,并以成為客戶值得信賴的工業品綜合服務商為目標。

MRO兩種形式

  1. 超市建立工業品專柜,大型超市也會經營部分工業品,但種類和數量有限。

  2. 網上工業品超市,這種形式配送可為客戶大規模找尋產品,使供應商和采購商都實現“進入一個點,得到一大片”連鎖效應,有效降低采購商采購成本。

代理品牌:

  1. 日本MUSASHI武藏(點膠機

  2. 日本HOYA豪雅 (UV固化燈,玻璃鏡片)

  3. 日本SIGMAKOKI西格瑪 (光學元件、物鏡等)

  4. 日本YUMEX優美科思(各種疝氣燈)

  5. 日本TOKISANGYO東機產業(粘度計

  6. 日本KANOMAX加野(風速儀)

  7. 日本YAMADA雅瑪達(隔膜泵)

  8. 日本EPSON愛普生 (機械臂)

  9. ATTEN安泰信 (焊接產品)

  10. 日本TSUBOSAN壺三(銼刀工具)

  11. 日本sakurai櫻井(無塵紙

  12. 韓國DIT東日技研(除靜電產品)

  13. 韓國HANIL韓一(攪拌機)

優勢品牌:

  1. 日本Otsuka大塚電子(晶圓、覆膜測厚儀)

  2. 日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬運)

  3. 日本AND艾安得(微量電子 分析天平)

  4. 英國Meech密其(非接觸式除塵系統)

  5. 日本SSD西西蒂(防靜電設備)

  6. 日本NEW-COSMOS 新宇宙(氣體檢測儀

  7. YIZOMO一子沫(拉拔機)

  8. 日本FURUPLA富如拉(噴壺)

  9. 日本PISCO匹士克(氣動元件

  10. 日本TECHNO特古羅(錫爐)

  11. 日本AMANO安滿能(除塵設備)

  12. 日本MALCOM馬康(粘度計)

  13. 日本HOZAN寶山(鑷子、鉗子等工具)

  14. 日本MITUTOYO三豐 (測量器具)

  15. 美國SIMCO思美高(防靜電、除塵產品);

成都藤田科技為廣大客戶提供一體化、全面、優質高效服務。

 

 

 

進出口業務,日本武藏點膠機,日本豪雅檢測光源,海康視覺成像,安泰信焊錫設備

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 綜合

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供



日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

產品信息

ELSZ series的高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。另外,也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池,通過新開發的對應高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中,從而擴大了生命科學領域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內,可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

特點

● 可對應從稀薄到濃厚溶液(~40%)寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定,可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態光散射法可測量微流變學

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數,可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量

● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)


用途

非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

● 新型功能材料領域

- 燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)

- 納米生物相關(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等

● 陶瓷/著色材料工業領域

- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機顏料)

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

● 半導體領域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

● 聚合物/化工領域

- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業)

- 聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

● 制藥/食品工業領域  

- 乳液(食品/香料/醫療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測

- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機能性檢測


原理

粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關法)

由于溶液中的粒子根據粒子的大小在做布朗運動,粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現快速波動,大粒子呈現緩慢波動。
通過光子相關法分析這種波動,就可以求得粒度和粒度分布。

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

分析流程

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

zeta電位測量原理:電泳光散射法 (激光多普勒法)

對溶液中的粒子施加電場時,可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光,根據散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒(Laser Doppler)法。


實測電滲流的優點

測量ZETA電位時,在樣品池內的粒子除了會泳動外,還會產生電滲流。電滲流是指在樣品池內壁面帶有負電荷時,溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時,壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動,并在樣品池內中附近   產生的一種對流。

森·岡本公式
充分考慮電滲流后進行樣品池內泳動速度的解析

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

電滲透流應用于多成分解析

ELSZ Series通過實測樣品內多點觀察到的電泳移動度,可以確認測量數據內ZETA電位分布的再現性及判定雜質的波峰。

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo

日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供





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