奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X4
- 公司名稱 深圳山河精測科技有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/2/17 18:46:02
- 訪問次數 48
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工業顯微鏡,超聲波探傷儀,超聲波測厚儀,渦流探傷儀,相控陣探傷儀,工業內窺鏡,雙折射應力儀,三坐標,工業鏡頭,顯微鏡物鏡,非接觸3D測量儀,激光共聚焦顯微鏡,納米壓痕儀,顯微鏡下微取樣系統,無掩膜曝光系統。
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 化工 |
奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X4多技術系列儀器是一種功能強大的便攜式解決方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同時增強您對評估工作的信心。利用其高級相控陣功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和創新型相位相干成像(PCI)技術,可以探測和解讀具有挑戰性的缺陷,并通過更早地識別損傷來確保資產的完整性。
獲得即時洞察力,消除低效率問題
TFM和PCI雙重技術讓您信心倍增
奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X4采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術,同時從焊縫兩側徹查整個焊縫體積。使用兩個探頭對焊縫進行一次性掃查,即可顯示TFM和PCI結果,以便高效精確地比較、測量和確認缺陷特征。
設計宗旨是提高速度和簡化操作
在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測。
任何經驗水平的檢測人員都可以利用這些技術,通過簡單的逐步掃查計劃和應用預設,提高效率,增強信心。
產品應用
1、HTHA檢測應用
早期可靠地探測HTHA頗具挑戰性,因此通常需要同時使用多種檢測方法,以盡可能提高檢出率。衍射時差(TOFD)、聚焦相控陣(PA)和全聚焦方式(TFM),特別是在使用雙晶線陣(DLA)探頭的情況下,已被證明是適合這種應用的特別有效的檢測技術。
OmniScan X4 64探傷儀支持這些方法和創新型相位相干成像(PCI)技術,后者可增強探測微小缺陷和裂紋尖部的能力。OmniScan X4儀器還提供各種機載軟件工具,以簡化您的設置和分析工作流程。
2、腐蝕檢測應用
利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優勢,其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是,熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。OmniScan X4探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單提供高級功能,從而可使您簡單輕松地獲得準確的數據。
3、焊縫檢測應用
OmniScan X4探傷儀是一個綜合型多技術工具箱,配備有設置、成像和分析工具,可使焊縫檢測變得更輕松
技術規格