Helios 5 PFIB DualBeam
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/1/3 13:35:05
- 訪問次數 37
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欲了解更多信息，請瀏覽公司網站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進入中國發展已超過35年，在中國的總部設于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設立了分公司，員工人數約為5000名。我們的產品主要包括分析儀器、實驗室設備、試劑、耗材和軟件等，提供實驗室綜合解決方案，為各行各業的客戶服務。為了滿足中國市場的需求，現有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運營。我們在全國還設立了8個應用開發中心以及示范實驗室，將世界級的前沿技術和產品帶給中國客戶，并提供應用開發與培訓等多項服務；擁位于上海的中國創新中心，擁有有100多位專業研究人員和工程師及70多項專利。創新中心專注于針對垂直市場的產品研究和開發，結合中國市場的需求和國外先進技術，研發適合中國的技術和產品；我們擁有遍布全國的維修服務網點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有超過2600名專業人員直接為客戶提供服務。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。
欲了解更多信息，請登錄網站：www.thermofisher.com 全國服務熱線：021-61621892公司電子郵箱：sales.china@thermofisher.com
科學儀器
用于 TEM 樣品制備（包括 3D 表征、橫截面成像和微加工）的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡
Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam（聚焦離子束掃描電子顯微鏡或 FIB-SEM）是具有的功能，專用于材料科學和半導體應用的顯微鏡。材料科學研究人員可以通過 Helios 5 PFIB DualBeam 實現大體積 3D 表征、無鎵樣品制備和精確的微加工。半導體設備、先進包裝技術和顯示設備的制造商通過 Helios 5 PFIB DualBeam 可實現無損傷、大面積反處理、快速樣品制備和高保真故障分析。
材料科學的主要特點
無鎵 STEM 和 TEM 樣品制備
由于新 PFIB 色譜柱可實現 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優異性能，因此可以實現高質量、無鎵 TEM 和 APT 樣品制備。
新一代 2.5 μA Xenon 等離子 FIB 色譜柱
使用新一代 2.5 μA Xenon 等離子 FIB 色譜柱 (PFIB) 實現高通量和高質量的統計學相關 3D 表征、橫截面成像和微加工。
低能量下具有亞納米性能
憑借具有高電流 UC+ 單色器技術的 Elstar 電子色譜柱，可以在低能量下實現亞納米性能，從而顯示最細致的細節信息。
先進的功能
通過 FIB/SEM 系統采用選配的 Thermo Scientific MultiChem 或 GIS 氣輸送系統，實現的電子和離子束誘導沉積及蝕刻功能。
短時間獲得納米級信息
借助 SmartAlign 和 FLASH 技術，任何經驗水平的用戶都可以最短時間獲得納米級信息。
先進的自動化
使用選配的 AutoTEM 5 軟件最快、地實現自動化的多點原位和非原位 TEM 樣品制備以及橫截面成像。
多模式亞表面和 3D 信息
使用選配的 Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件，訪問高質量、多模式亞表面和 3D 信息并精確定位感興趣區。
完整的樣品信息
可通過多達六個集成在色譜柱內和透鏡下的集成檢測器獲得清晰、精確且無電荷對比度的最完整的樣品信息。
無偽影成像
無偽影成像基于集成的樣品清潔度管理和專用成像模式，例如 SmartScan™ 和 DCFI 模式。
精確的樣品導航
由于 150 mm 壓電載物臺和選配腔室內 Nav-Cam 導航具有高穩定性和準確性，可根據具體應用需求定制精確的樣品導航。
材料科學規格
| Helios 5 PFIB CXe DualBeam | Helios 5 PFIB UXe DualBeam | |
| 電子光學系統 |
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| 電子束分辨率 |
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| 電子束參數空間 |
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| 離子光學系統 |
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| 檢測器 |
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| 載物臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺：
| 高精度，5 軸電動樣品臺（帶 XYR 軸），壓電驅動
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