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| 背散射電子圖像分辨率 | 2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 二次電子圖象分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV,SEnm | 放大倍數 | 1 x ～ 1,000,000 xx |
| 加速電壓 | 200V ～ 30 kVkV | 價格區間 | 面議 |
| 儀器種類 | 熱場發射 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬 |
SEM4000X是一款穩定通用，靈活高效的場發射掃描電鏡。分辨率可達1.9nm @1.0kV，輕松應對各種類型樣品的高分辨拍樣挑戰，可升級超級減速模式，進一步提升低壓分辨率。同時采用了多探測器技術，鏡筒內電子探測器（UD）可探測SE和BSE信號，同時具有高分辨率性能。倉內電子探測器（LD）采用了晶體閃爍體和光電倍增管，具備更高的靈敏度和高效性，圖像具有很好的立體感。中文操作軟件，簡單易用，豐富的自動化功能，如自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散、自動對中等等，可快速獲取高分辨圖像。
| 關鍵參數 | 分辨率 | 0.9 nm@30 kV, SE |
| 1.2 nm@15 kV, SE | ||
| 1.9 nm@1 kV, SE | ||
| 1.5 nm@1 kV(超級減速） | ||
| 1.0 nm@15 kV(超級減速） | ||
| 加速電壓 | 200 V~30 kV | |
| 放大倍率 | 1~1,000,000× | |
| 電子槍類型 | 肖特基場發射電子槍 | |
| 樣品室 | 低真空模式 | / |
| 攝像頭 | 雙攝像頭（光學導航+樣品倉內監控） | |
| XY行程 | 110 mm | |
| Z行程 | 50 mm | |
| T行程 | -10°~+70° | |
| R行程 | 360° | |
| 探測器 | 鏡筒內電子探測器 | UD-BSE/UD-SE |
| 倉室內電子探測器 | LD | |
| 插入式背散射電子探測器（BSED） | ○ | |
| 插入式掃描透射電子探測器（STEM） | ○ | |
| 低真空二次電子探測器（LVD） | ○ | |
| 能譜儀（EDS） | ○ | |
| 背散射衍射（EBSD） | ○ | |
| 擴展 | 樣品交換倉（4寸/8寸） | ○ |
| 旋鈕板&軌跡球 | ○ | |
| 雙減速技術（Duo-Dec） | / | |
| 超級減速技術 | ○ | |
| 軟件 | 操作軟件 | Windows操作系統，中文SEM軟件 |
| 導航 | 光學導航、手勢快捷導航、軌跡球（選配） | |
| 自動功能 | 自動亮度對比度、自動 |
在線客服：0571-87858618 展會合作：0571-87759900 投訴熱線：0571-87858619 
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