布魯克（Bruker）射線熒光光譜儀：元素分析的科學工具

布魯克X射線熒光光譜儀（XRF）是一種非破壞性分析工具，利用X射線激發樣品中的原子，測量其熒光發射光譜來確定化學元素的組成。它適用于工業、科研、教育等多個領域的樣品分析，具有快速、準確、靈活的特點。

布魯克Bruker射線熒光光譜儀的工作原理

布魯克XRF光譜儀通過發射高能X射線照射樣品，使樣品中的原子受到激發。被激發的原子釋放熒光X射線，不同元素的熒光波長和強度具有特性。儀器通過檢測這些特性，從而識別樣品中的元素種類并計算其含量。

• 非破壞性檢測：無需對樣品進行復雜處理，保持樣品的完整性。

• 元素覆蓋范圍廣：能夠分析從鈉（Na）到鈾（U）的元素。

• 定量與定性分析：既能快速識別元素種類，又能精準測量濃度。

布魯克XRF光譜儀的特點

1. 高精度與低檢測限

• 檢測限低至ppm級別，適用于痕量元素分析。

• 利用優化的光路和高靈敏度探測器，確保對輕、中、重元素的精準檢測。

2. 多樣品適應性

• 適用于多種樣品形態：塊狀、顆粒、粉末、液體等。

• 無需復雜的樣品制備，即可快速完成測量。

3. 智能化與自動化

• 配備直觀的軟件界面，用戶可快速上手。

• 自動化進樣系統支持批量分析，顯著提高效率。

4. 耐用性與可靠性

• 采用高壽命X射線光管，運行成本低，維護簡單。

• 專有的SampleCare™技術提供全面防護，減少污染對設備的影響。

布魯克XRF光譜儀的主要應用領域

1. 工業質量控制

• 金屬與合金：快速分析鋼鐵、銅、鋁等金屬材料的化學成分。

• 水泥與建材：檢測氧化物組成，確保產品符合質量標準。

• 石油化工：精確測定油品中的硫、氯等元素含量。

2. 地質與礦產分析

• 礦石樣品中的主量和微量元素檢測，為礦產開采和加工提供數據支持。

• 地質研究中巖石和沉積物的成分分析。

3. 聚合物與材料科學

• 測試塑料和聚合物中的添加劑及微量重金屬含量。

• 用于涂層厚度及均勻性檢測。

4. 環境與法規檢測

• 檢測土壤、水樣中的污染物含量。

• 分析電子產品中的有害物質（如RoHS標準中的鉛、鎘）。

5. 學術與科研

• 用于材料表面微區的元素分布分析。

• 支持多學科交叉研究，如化學、物理和生物學。

布魯克XRF光譜儀的類型

1. 波長色散型（WDXRF）光譜儀

• 分辨率高，適用于復雜樣品的高精度分析。

• 可分析輕、中、重元素，特別適合科研和工業生產控制。

2. 能量色散型（EDXRF）光譜儀

• 緊湊型設計，適合小型實驗室和現場使用。

• 測量速度快，操作便捷，適用于多領域快速分析。

3. 手持式XRF光譜儀

• 便于攜帶，用于現場檢測和實時分析。

• 常應用于地質勘探、文物保護和廢料回收等領域。

布魯克XRF光譜儀的技術服務

布魯克為用戶提供儀器全生命周期的技術支持，包括：

• 安裝調試：確保儀器在用戶現場穩定運行。

• 技術培訓：幫助用戶熟悉儀器操作與分析方法開發。

• 維護與升級：提供預防性維護，定期更新軟件和硬件功能。

布魯克Bruker射線熒光光譜儀總結

布魯克X射線熒光光譜儀以其高精度、靈活性和多樣化的應用領域，成為化學成分分析的重要工具。無論是在科研實驗室還是工業生產線上，其穩定的性能和智能化設計都為用戶提供了高效可靠的解決方案。