化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測(cè)量/計(jì)量?jī)x器>表面測(cè)量?jī)x器>輪廓儀>TopMap Micro.View Polytec 3D白光干涉測(cè)量?jī)x
TopMap Micro.View Polytec 3D白光干涉測(cè)量?jī)x
| 參考價(jià) | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 廣州萬(wàn)智光學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) TopMap Micro.View
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/29 14:15:28
- 訪問(wèn)次數(shù) 139
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類(lèi) | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-200萬(wàn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣,綜合 |
TopMap Micro.View是易于使用且緊湊的光學(xué)輪廓儀。 性能及實(shí)惠價(jià)格并具有強(qiáng)大的計(jì)量解決方案并。Micro.View的垂直測(cè)量范圍可擴(kuò)展到100 毫米和CST連續(xù)掃描技術(shù)，可在納米分辨率下測(cè)量復(fù)雜的形貌。 這種便捷的桌面設(shè)置具有集成的電子設(shè)備，并帶有智能聚焦查找器，可簡(jiǎn)化并加快測(cè)量過(guò)程。
白光干涉儀可捕捉精密表面的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。 我們基于顯微鏡的輪廓儀可表征表面紋理并量化工件表面的粗糙度或光滑度。 利用電動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)定位和自動(dòng)對(duì)焦查找器，讓您可以專(zhuān)注于質(zhì)量。
面積小但具有功能擴(kuò)展
受益于可選的ECT環(huán)境補(bǔ)償技術(shù)，即使在嘈雜和充滿挑戰(zhàn)的生產(chǎn)環(huán)境中，也能確保可靠和準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。 Micro.View是一種經(jīng)濟(jì)有效的質(zhì)量控制儀器，用于在制造和研究中檢查精密的工程表面。
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