美國博曼（Bowman）K系列 XRF 高精度涂層測量系統

K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優于同類產品的12英寸（304 mm）×12英寸（304mm）可測量區域。自動多準直器允許選擇光斑尺寸，以適應各種特征尺寸；可變焦攝像頭允許在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范圍內進行測量。

配置

K 系列的標準配置包括一個4位（4、8、12和24mil）多重準直器；

可選尺寸為2x2 mil 至60mil。可變焦距便于在凹陷區域進行測量。

同服電機驅動的可編程平臺可通過可選的 xyz程序進行零件測量。

程序可使用模式匹配和自動對焦來確保精確測量。

與所有 Bowman XRF 系統一樣，K系列配備了標準的硅漂移探測器（SDD）和長壽命微聚焦×射線管。