菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220

儀器簡介：

適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能

頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用

能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化

畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）

圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中

測量模式用于：

單、雙及三層鍍層系統(tǒng)

雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量

雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）

能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量；

可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇

完整的統(tǒng)計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估

報告生成，數(shù)據(jù)輸出

語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文

菜單中的某些選擇項可授權使用