SediGraph III Plus 基于直接檢測質(zhì)量濃度確定粒度分布和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報(bào)告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動(dòng)進(jìn)樣器，連續(xù)監(jiān)測生產(chǎn)過程，并將數(shù)據(jù)推送到網(wǎng)絡(luò)或云端以供遠(yuǎn)程訪問。
性能與優(yōu)點(diǎn)：
智能設(shè)計(jì)特性
SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計(jì)確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護(hù)更加輕松，并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現(xiàn)的結(jié)果。
設(shè)計(jì)改進(jìn)包括：
完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒進(jìn)行分析，包括粒徑小于 0.1 µm 的部分
能夠與其他粒徑測量方法獲得的數(shù)據(jù)合并，從而將數(shù)據(jù)報(bào)告范圍擴(kuò)展到 125000 µm (125 mm)，在地質(zhì)學(xué)方面有很好的應(yīng)用
自下而上地掃描沉降池，能夠準(zhǔn)確地獲取快速沉降顆粒的總數(shù)，同時(shí)盡可能縮短細(xì)顆粒分離所需的時(shí)間
全自動(dòng)操作模式能夠提高樣品分析通量，并且減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差
溫控分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定，獲得精確的分析結(jié)果
多種分析速度，可根據(jù)實(shí)際需要選擇速度和分辨率
實(shí)時(shí)顯示，能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖，以便根據(jù)需求即時(shí)修正分析程序
統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）報(bào)告能夠跟蹤過程性能，便于立即對波動(dòng)變化作出響應(yīng)
多圖疊加功能，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較，例如，與參考樣品或基線疊加，或?qū)⑼环治鰯?shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
數(shù)據(jù)比較圖，能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差（與參考樣品圖的差異）或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)值高于或低于容差范圍的程度（超標(biāo)圖）
多分析儀控制，允許使用同一臺計(jì)算機(jī)控制兩臺 SediGraph ，節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間，方便數(shù)據(jù)存儲
規(guī)格
| 顆粒粒徑范圍： | 0.1 – 300 µm 當(dāng)量球徑 |
| 接觸液體材質(zhì)： | 不銹鋼、特氟龍浸漬陽極氧化鋁、鍍鎳鋁、尼龍、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯和 Pharmed 管、碳化鎢、超白鋼、氟化橡膠、橡膠 和環(huán)氧樹脂 |
| 樣品量： | 50 mL 分散的樣品 – 無需精確的濃度控制 |
| 分散劑： | 與樣品池材料兼容，且不吸收 X 光的液體（如水、乙二醇、礦物油、SediSperse® 和乙醇） |
| 電源要求： | 85 – 264 VAC，47/63 Hz，450 VA |
| 溫度： | 運(yùn)行環(huán)境溫度 + 10 °C 至 40 °C；儲存或運(yùn)輸溫度范圍為 -10 °C 至 55 °C |
| 濕度： | 20% 至 80%（無冷凝） |
| 其他信息： | ISO 9001 制造商 CE 認(rèn)證 |
| 實(shí)體規(guī)格： | 高度： 52 cm（20.5 英寸） 寬度： 50.5 cm（20 英寸） 深度： 58 cm（23 英寸） 重量： 43 kg（95 磅） |
技術(shù)
Micromeritics的 SediGraph 是全球眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。 無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中還是在受控的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下，SediGraph 憑借其的性能，提供可靠準(zhǔn)確的結(jié)果。 該儀器采用X光沉降法測量粒度分布，通過樣品對 X 射線的吸收直接測量顆粒質(zhì)量。 SediGraph根據(jù)斯托克斯定律，通過測量顆粒在已知特性的液體中的沉降速率，能夠得出粒徑范圍在 0.1 – 300 µm間樣品顆粒的等效球徑。
新一代 SediGraph III Plus 粒度分析儀結(jié)合成熟及改進(jìn)的分析技術(shù)，能夠提供具備更高重復(fù)性和準(zhǔn)確度的顆粒粒徑信息，大多數(shù)分析在幾分鐘內(nèi)即可完成。
完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒進(jìn)行分析，包括粒徑小于 0.1 µm 的部分
能夠與其他粒徑測量方法獲得的數(shù)據(jù)合并，從而將數(shù)據(jù)報(bào)告范圍擴(kuò)展到 125000 µm (125 mm)，在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用
自下而上地掃描沉降池，能夠準(zhǔn)確地獲取快速沉降的顆粒總數(shù)，同時(shí)盡可能縮短細(xì)顆粒分離所需的時(shí)間
全自動(dòng)操作模式能夠提高樣品分析通量，并且減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差
溫控分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定，獲取精確的分析結(jié)果
多種分析速度，可根據(jù)實(shí)際需要選擇速度和分辨率
實(shí)時(shí)顯示，能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖，以便根據(jù)需求即時(shí)修正分析程序
統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）報(bào)告能夠跟蹤過程性能，便于立即對波動(dòng)變化作出響應(yīng)
多圖疊加功能，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較，例如，與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
數(shù)據(jù)比較圖，能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差（與參考樣品圖的差異）或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)值高于或低于容差范圍的程度（超標(biāo)圖）
多分析儀控制，允許使用同一臺計(jì)算機(jī)控制兩臺 SediGraph ，節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間，方便數(shù)據(jù)存儲
應(yīng)用
陶瓷：顆粒的粒度范圍和質(zhì)量分布極大影響陶瓷粉末的燒結(jié)能力、成型性能乃至成品中的孔徑分布。 顆粒粒度分布信息有利于檢測固化和粘合過程、控制孔結(jié)構(gòu)、確保足夠的生坯強(qiáng)度，以獲取所需強(qiáng)度、質(zhì)構(gòu)、外觀和密度的最終產(chǎn)品。
金屬粉末：通過控制粒度分布，能夠在產(chǎn)品中設(shè)計(jì)特定的孔結(jié)構(gòu)。孔隙率特性通常是產(chǎn)品性能的關(guān)鍵。與陶瓷相似，粒度分布對生坯、最終產(chǎn)品強(qiáng)度和密度都至關(guān)重要。
地質(zhì)/土壤科學(xué)：顆粒粒徑會影響土壤的保水能力、排水速度和土壤保持養(yǎng)分的能力。顆粒直徑關(guān)系到沉淀物的轉(zhuǎn)移。
化妝品：化妝品的外觀、使用和包裝直接受基礎(chǔ)原料如滑石粉和著色劑顆粒粒度分布的影響。
顏料：僅粒徑一項(xiàng)就會影響顏色的著色強(qiáng)度。 隨著著色強(qiáng)度的提高，產(chǎn)生相應(yīng)顏色強(qiáng)度所需的顏料量相應(yīng)下降。粒徑也會影響涂料的遮蓋力。同時(shí)粒徑分布也會影響光澤、質(zhì)地、顏色飽和度和亮度度。
催化劑：粒徑直接影響金屬對結(jié)構(gòu)敏感催化反應(yīng)的金屬催化活性。
建筑材料：水泥的粒徑會影響成品混凝土和水泥的凝結(jié)時(shí)間和強(qiáng)度特性。
礦物和無機(jī)化學(xué)品：材料的反應(yīng)性取決于暴露的表面積和粒度分布。
磨料：無論磨料顆粒和粉末是用于漿料、干噴射處理或固結(jié)研磨工具，這類材料均衡的粒度分布是基本的考慮因素。均勻的粒徑可確保通過噴砂機(jī)時(shí)精確的流速，并且是研磨介質(zhì)循環(huán)使用的關(guān)鍵因素。
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