PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統是在標配STM-TEM樣品桿內集成納牛力傳感器，實現高精度的力學及電學測量。

性能指標

透射電鏡指標：

● 兼容指*電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

力學傳感器指標：

● 懸臂梁彈性范圍1 N/m~100 N/m；

● 載荷分辨率優于5 nN（使用1 N/m懸臂梁時）；

● 自動測量力-距離曲線，自動保存。

產品特色

（1）可保證電鏡原有分辨率，即使在球差內也可以拍到清晰原子像；

（2）良好的操縱穩定性，壓電陶瓷驅動方式，保證高精度的操縱。樣品桿具有很高的穩定性  ，探針移動平穩，實現高分辨原位觀察實驗；

（3）操作簡便，軟件界面友好易操作。控制器集成電流電壓測試單元，滿足大多數實驗需求。位移粗調和細調全軟件操作；

（4）力電一體化解決方案，力學和電學配置可滿足大部分測試需求；

（5）很長的壽命