目視晶圓缺陷YP-150I 400,000luxes照明裝置

目視晶圓缺陷YP-150I 400,000luxes照明裝置

產 品 特 點

1. 大于   400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

2.   使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400K，照光和顏色均一了穩定強光的照射。

3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2   到 1/3

4. 光束直徑由鏡片調整30-50mm 之間調整

5. 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量

高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是工件加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板

YP-150I 照度范圍：30mmφ

YP-250I 照度范圍：60mmφ

超精密平面檢測的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。

YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測

最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板

另外，由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，

光照不均勻的情況很少，光照***穩定銳利。

姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。

光源采用鹵素燈

　　■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高

　　■ 熱量的影響降低到傳統鋁鏡的1/3

　　■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換

　　請用于超精密平面檢測！

規 格 書