FR-Mic POLOS 實(shí)時光譜測量裝置用于研究所
| 參考價(jià) | ￥ 2500 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 北京漢達(dá)森機(jī)械技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FR-Mic
- 產(chǎn)地 意大利
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/1/6 13:39:50
- 訪問次數(shù) 289
聯(lián)系方式：陳聰霞18518172431 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 供貨周期 | 一個月以上 | 規(guī)格 | JCL-6036S |
|---|---|---|---|
| 貨號 | TAC7-6116N | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,印刷包裝 |
| 主要用途 | UNIMEC已經(jīng)成為螺旋千斤頂、傘齒齒輪箱和調(diào)制檔的專業(yè)制造商 |
POLOS 實(shí)時光譜測量裝置用于研究所
FR-Mic 提供：
實(shí)時光譜測量
薄膜厚度、光學(xué)特性、不均勻性測量、厚度映射
使用集成的 USB 連接高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像
使用 FR-Mic，只需單擊一下，即可在 UV / VIS / NIR 光譜范圍內(nèi)的任何光譜范圍內(nèi)對薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率、透射率和吸光度進(jìn)行局部測量。
FR-Mic 是用于快速&準(zhǔn)確的涂層表征應(yīng)用的模塊化光學(xué)柱，這些應(yīng)用需要小至幾微米的光斑尺寸，典型的例子包括（但不限于）：微圖案表面，粗糙表面和許多其他。它可以與專用的計(jì)算機(jī)控制的XY舞臺結(jié)合使用，從而可以快速、輕松且準(zhǔn)確地自動映射樣品的厚度和光學(xué)屬性。
POLOS 系列
FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光譜范圍
實(shí)時光譜測量
薄膜厚度、光學(xué)特性、不均勻性測量、厚度映射
使用集成的 USB 連接高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像
品牌POLOS 系列
產(chǎn)品編號FR-麥克風(fēng)-370-1700
大小FR-Mic 麥克風(fēng)
材料臺式系統(tǒng)
厚度范圍15 nm 至 150 μm
光譜范圍370 納米 - 1700 納米
光源 MTBF鹵素?zé)簦▋?nèi)部），3000 小時（不包括在內(nèi)！
FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光譜范圍 應(yīng)用：
大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室
半導(dǎo)體（氧化物、氮化物、硅、光刻膠等）
POLOS 實(shí)時光譜測量裝置用于研究所
該廠商的其他產(chǎn)品
- UMG 103-CBM Janitza 電力監(jiān)測設(shè)備-電能質(zhì)量分析儀器
- UMG 512-PRO - 95V-240V AC Janitza 電能質(zhì)量分析儀 德國生產(chǎn)現(xiàn)貨
- UMG 96-PA Janitza 帶通信功能的通用測量設(shè)備 現(xiàn)貨
- UMG 103-CBM Janitza 電能質(zhì)量監(jiān)測裝置 現(xiàn)貨
- UMG 604 E-PRO 24V Janitza 可擴(kuò)展功率分析測量三相電表
- FOC 100µm PIEZOSYSTEM 壓電陶瓷納米定位測量臺
- LF2.100 µm PIEZOSYSTEM XY軸位移臺 測量實(shí)驗(yàn)室
- CO.56 PRO V2.0, SONASCREEN 2 攝像機(jī)聲學(xué)測量設(shè)備
采購中心
化工儀器網(wǎng)