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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>其它半導體行業儀器設備>其它半導體設備> SIRM紅外體微缺陷分析儀

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SIRM紅外體微缺陷分析儀

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體微缺陷測試

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上海波銘科學儀器有限公司成立于2013年,是一家專業從事科學儀器研發、生產、銷售于一體的高科技技術企業。公司主要服務于各大高校、科研院所和高*工業客戶。主要提供光學儀器如光柵光譜儀、熒光光譜儀,膜厚測量儀,探測器響應分析儀、太陽能電池量子效率測試系統等科研實驗室儀器;及光學機械加工設計,電子測量等專業的解決方案服務。公司以“專注質量、用心服務”為核心價值。希望通過我們的專業水平和不懈努力,力爭為中國的科研及精密制造事業貢獻一股力量。

上海波銘科學儀器公司為美國理波公司(Newport)、日本大塚(Otsukael)正式代理商。配有專業光學技術人員,專注于光學儀器市場的開發和應用,已經為復旦大學、上海交通大學、上海科技大學、南京大學、中國科技大學、北京大學、清華大學、聯影醫療、思特威電子等用戶提供專業的服務。

公司成立多年來,我們一直秉承以用戶需求為核心,在專注光學等核心技術市場的同時,已經為超過一百家高校科研院所和企業提供了成套和部分的解決方案服務。優質、用心的服務贏得了眾多用戶的信賴和好評。公司不僅僅提供專業的光學解決方案服務,同時還建立了完善的售后服務體系。我們相信,通過我們的不斷努力和追求,一定能夠實現與高校、企業、科研院所的互利共贏!

 

 

 

光學測試系統;光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數據采集器;光學平臺;電動位移臺;手動位移臺;調整架;光學元件

價格區間 面議 應用領域 醫療衛生,環保,食品,生物產業,綜合

Capability:

  • 無需制樣

  • 最小測試缺陷尺寸10nm

  • 測試缺陷濃度范圍:105-109cm-3

  • 可做外延片測試

  • 測試樣品最大尺寸300mm

SIRM紅外體微缺陷分析儀 SIRM紅外體微缺陷分析儀








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。


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