日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置 ETA-TCM

這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點是快速、非接觸、能夠高精度地進行大面積測量。

特長：

反射/透射光譜測量

測量基材上單層薄膜的 n/k（光學常數）

基材上堆疊的每層薄膜的膜厚（最多3層）

各膜層光學模型及參數可調

受光部波長帶（320nm～1700nm）

配備自動校準功能

支持高速測量、卷對卷、在線測量

應用：

1.電子產品

顯示/照明/半導體/OLED等

實例：AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。

2.汽車

醫療器械/藥品/細胞/小瓶等

實例：AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。

3.生物醫學

顯示/照明/半導體/OLED等

實例：SiO2涂層/醫用薄膜等。

4.其他的

太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等

實例：阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。

日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置 ETA-TCM

這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點是快速、非接觸、能夠高精度地進行大面積測量。

特長：

反射/透射光譜測量

測量基材上單層薄膜的 n/k（光學常數）

基材上堆疊的每層薄膜的膜厚（最多3層）

各膜層光學模型及參數可調

受光部波長帶（320nm～1700nm）

配備自動校準功能

支持高速測量、卷對卷、在線測量

應用：

1.電子產品

顯示/照明/半導體/OLED等

實例：AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。

2.汽車

醫療器械/藥品/細胞/小瓶等

實例：AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。

3.生物醫學

顯示/照明/半導體/OLED等

實例：SiO2涂層/醫用薄膜等。

4.其他的

太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等

實例：阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。