Hitachi S-9300 是一款 CD SEM（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）

用于測量半導體工藝中的精細圖案尺寸.

以下是主要規格：

• 制造商： Hitachi

• 型號： S-9300

• 晶圓尺寸：200mm

• 電子光學系統：

• 電子槍：肖特基發射源

• 加速電壓：500V至1600V，10V步進

• 探頭電流：4~24pA，通過法拉第杯自動設置和測量

• 電磁透鏡：帶升壓電壓的 3 級電磁透鏡系統

• 物鏡：4 個開口咔嗒停止，加熱孔徑可在真空外選擇/調節

• 掃描線圈：2級電磁偏轉

• 散光校正：通過 8 極電磁線圈

• 放大倍率：1000 倍至 >300000 倍

• 現場控制方法：在所有電壓下連續開啟樣品放電

• 晶圓成像能力：8英寸（或12英寸）晶圓的整個表面

• 景深：80000倍放大倍率下>= 1.0um

• 分辨率：3nm （800V） 緩速/升壓模式

• 光學顯微鏡系統：

• 圖像：單色，使用CCD相機

• 放大倍率：110倍

• 晶圓成像：X 覆蓋范圍為 5 – 295mm，Y 覆蓋范圍為 5 – 195mm，缺口向下

• 視場角：1.2mm

• 工作站型號： HP B180L （9GB）

• 操作系統：Unix 版本 HP-UX 10.20 或更高版本

• 軟件版本：14.71 或更高版本

它還配備了激光干涉儀平臺，可實現超高目標尋址精度、迷你環境和兼容 FOUP 的負載端口.可以支持高級自動化場景，例如通過自動物料搬運系統（AMHS）進行FOUP交付和單個晶圓識別.