晶圓缺陷參數檢測 : 非接觸測試解決方案
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京卓立漢光儀器有限公司
- 品牌 ZOLIX/卓立漢光
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/7/11 16:47:25
- 訪問次數 581
產品標簽
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全晶圓半導體參數非接觸測試解決方案
Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters
基于我公司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光光譜和共焦拉曼光譜等核心測試技術和模組,聯合白光干涉等其它 3D 測量技術,根據客戶的需求靈活組合相應的技術搭配,為客戶開發(fā)定制化的半導體參數測試解決方案,獲得從粗糙度、圖形尺寸和膜厚等幾何參數,到位錯、層錯等缺陷,再到發(fā)光波長、壽命、載流子濃度、組分和應力等物理參數的綜合測量,實現無需任何前處理的全晶圓無損自動化檢測。